A simulation-based approach to test pattern generation for synchronous circuits / Camurati, Paolo Enrico; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (1992), pp. 263-267. (Intervento presentato al convegno IEEE VLSI Test Symposium) [10.1109/VTEST.1992.232763].
A simulation-based approach to test pattern generation for synchronous circuits
CAMURATI, Paolo Enrico;CORNO, Fulvio;PRINETTO, Paolo Ernesto;SONZA REORDA, Matteo
1992
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https://hdl.handle.net/11583/2499443
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