A Test Pattern Generation Algorithm Exploiting Behavioral Information / Chiusano, SILVIA ANNA; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto. - (1998), pp. 480-485. (Intervento presentato al convegno IEEE Asian Test Symposium nel 2-4 December 1998).

A Test Pattern Generation Algorithm Exploiting Behavioral Information

CHIUSANO, SILVIA ANNA;CORNO, Fulvio;PRINETTO, Paolo Ernesto
1998

1998
9780818682773
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