RicercaInizia una nuova ricerca
NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.
Testability measures with concurrent good simulation
1989 Cabodi, Gianpiero; Camurati, Paolo Enrico; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo
Testing a Switching Memory in a Telecommunication System
1995 Barbagallo, S.; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo
Testing Heatsink Faults in Power Transistors by means of Thermal Model
2020 Piumatti, Davide; Quitadamo, Matteo Vincenzo; Reorda, Matteo Sonza; Fiori, Franco
Testing logic cores using a BIST P1500 compliant approach: a case of study
2005 Bernardi, Paolo; Masera, Guido; Quaglio, Federico; SONZA REORDA, Matteo
Testing permanent faults in pipeline registers of GPGPUs: A multi-kernel approach
2019 SONZA REORDA, Matteo; Rodriguez Condia Josie, E.
Testing the Divergence Stack Memory on GPGPUs: A Modular in-Field Test Strategy
2020 Rodriguez Condia, Josie Esteban; Sonza Reorda, M.
The Product Machine and Implicit Enumeration to prove FSMs correct
1991 Camurati, Paolo Enrico; Gilli, Marco; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo
The Selfish Gene Algorithm: a New Evolutionary Optimization Strategy
1998 Corno, Fulvio; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni
The training environment for the course on microprocessor systems at the Politecnico di Torino
1998 Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo
The use of model checking in ATPG for sequential circuits
1991 Camurati, Paolo Enrico; Gilli, Marco; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo
Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
---|---|---|---|
Testability measures with concurrent good simulation / Cabodi, Gianpiero; Camurati, Paolo Enrico; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - (1989), pp. 144-149. (Intervento presentato al convegno ETC'89: IEEE 1st European Test Conference tenutosi a Paris (France) nel 12-14 April 1989) [10.1109/ETC.1989.36236]. | 1-gen-1989 | CABODI, GianpieroCAMURATI, Paolo EnricoPRINETTO, Paolo ErnestoSONZA REORDA, Matteo | - |
Testing a Switching Memory in a Telecommunication System / Barbagallo, S.; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (1995), pp. 947-956. (Intervento presentato al convegno ITC 1995 : IEEE International Test Conference, 1995 tenutosi a Washington DC (USA) nel Oct 21-25, 1995) [10.1109/TEST.1995.529941]. | 1-gen-1995 | CORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoSONZA REORDA, Matteo + | - |
Testing Heatsink Faults in Power Transistors by means of Thermal Model / Piumatti, Davide; Quitadamo, Matteo Vincenzo; Reorda, Matteo Sonza; Fiori, Franco. - (2020), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 21st IEEE Latin-American Test Symposium (LATS20) tenutosi a Jatiúca (Maceió), Brazil nel 30th March - 2nd April 2020) [10.1109/LATS49555.2020.9093674]. | 1-gen-2020 | Piumatti, DavideQuitadamo, Matteo VincenzoReorda, Matteo SonzaFiori, Franco | 09093674.pdf; Thermal_faults_V_4_CR_no_layout_editoriale.pdf |
Testing logic cores using a BIST P1500 compliant approach: a case of study / Bernardi, Paolo; Masera, Guido; Quaglio, Federico; SONZA REORDA, Matteo. - 3:(2005), pp. 228-233. (Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE2005) tenutosi a Munich nel 7-11 Marzo 2005) [10.1109/DATE.2005.305]. | 1-gen-2005 | BERNARDI, PAOLOMASERA, GuidoQUAGLIO, FEDERICOSONZA REORDA, Matteo | - |
Testing permanent faults in pipeline registers of GPGPUs: A multi-kernel approach / SONZA REORDA, Matteo; Rodriguez Condia Josie, E.. - STAMPA. - (2019). (Intervento presentato al convegno 2019 IEEE 25th International Symposium on On-Line Testing And Robust System Design (IOLTS) tenutosi a Rhodes (Greece) nel 1-3 July 2019) [10.1109/IOLTS.2019.8854463]. | 1-gen-2019 | Sonza Reorda MatteoRodriguez Condia Josie E. | Camera_Ready_final.pdf; 08854463.pdf |
Testing the Divergence Stack Memory on GPGPUs: A Modular in-Field Test Strategy / Rodriguez Condia, Josie Esteban; Sonza Reorda, M.. - ELETTRONICO. - (2020), pp. 153-158. (Intervento presentato al convegno 28th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SOC 2020 tenutosi a usa nel 5-7 Oct. 2020) [10.1109/VLSI-SOC46417.2020.9344088]. | 1-gen-2020 | Rodriguez Condia, Josie EstebanSonza Reorda, M. | paper open source.pdf; 09344088.pdf |
The Product Machine and Implicit Enumeration to prove FSMs correct / Camurati, Paolo Enrico; Gilli, Marco; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - (1991), pp. 51-62. (Intervento presentato al convegno CHARME 1991: Advanced Research Workshop on Correct Hardware Design Methodologies tenutosi a Torino (Italy) nel June 1991). | 1-gen-1991 | CAMURATI, Paolo EnricoGILLI, MARCOPRINETTO, Paolo ErnestoSONZA REORDA, Matteo | - |
The Selfish Gene Algorithm: a New Evolutionary Optimization Strategy / Corno, Fulvio; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - (1998), pp. 349-355. (Intervento presentato al convegno SAC) [10.1145/330560.330838]. | 1-gen-1998 | CORNO, FulvioSONZA REORDA, MatteoSQUILLERO, Giovanni | - |
The training environment for the course on microprocessor systems at the Politecnico di Torino / Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (1998). (Intervento presentato al convegno WCAE '98 Proceedings of the 1998 workshop on Computer architecture education) [10.1145/1275182.1275190]. | 1-gen-1998 | REBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo | - |
The use of model checking in ATPG for sequential circuits / Camurati, Paolo Enrico; Gilli, Marco; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - 531:(1991), pp. 86-95. (Intervento presentato al convegno Computer-Aided Verification 2nd International Conference, CAV '90 tenutosi a New Brunswick, NJ (USA) nel June 18-21, 1990) [10.1007/BFb0023722]. | 1-gen-1991 | CAMURATI, Paolo EnricoGILLI, MARCOPRINETTO, Paolo ErnestoSONZA REORDA, Matteo | - |
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili sulla rete interna
- file disponibili agli utenti autorizzati
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile
Opzioni
Scopri
Tipologia
- 4 Contributo in Atti di Convegno ... 475
- 4 Contributo in Atti di Convegno ... 475
Data di pubblicazione
- In corso di stampa 1
- 2020 - 2024 76
- 2010 - 2019 128
- 2000 - 2009 167
- 1990 - 1999 99
- 1988 - 1989 4
Editore
- IEEE 136
- IEEE Computer Society 44
- Springer 24
- Institute of Electrical and Elect... 19
- IEEE - INST ELECTRICAL ELECTRONIC... 17
- ACM Press 7
- IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 6
- IEEE / Institute of Electrical an... 4
- ACM 3
- ieee 3
Rivista
- LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 22
Serie
- ... IEEE ... INTERNATIONAL SYMPOS... 2
- IFIP ADVANCES IN INFORMATION AND ... 1
- LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 1
- LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 1
- PROCEEDINGS IEEE COMPUTER SOCIETY... 1
Keyword
- Reliability 13
- Graphics Processing Units (GPUs) 12
- SBST 12
- Safety 10
- Electrical and Electronic Enginee... 9
- Hardware and Architecture 8
- Fault Injection 7
- fault simulation 7
- Reliability and Quality 7
- Risk 7
Lingua
- eng 292
- ger 1
- ita 1
Accesso al fulltext
- no fulltext 360
- partially open 56
- reserved 39
- open 20