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Citazione Data di pubblicazione Autori File
Testing the Divergence Stack Memory on GPGPUs: A Modular in-Field Test Strategy / Rodriguez Condia, Josie Esteban; Sonza Reorda, M.. - ELETTRONICO. - (2020), pp. 153-158. (Intervento presentato al convegno 28th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SOC 2020 tenutosi a usa nel 5-7 Oct. 2020) [10.1109/VLSI-SOC46417.2020.9344088]. 1-gen-2020 Rodriguez Condia, Josie EstebanSonza Reorda, M. paper open source.pdf; 09344088.pdf
The Product Machine and Implicit Enumeration to prove FSMs correct / Camurati, Paolo Enrico; Gilli, Marco; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - (1991), pp. 51-62. (Intervento presentato al convegno CHARME 1991: Advanced Research Workshop on Correct Hardware Design Methodologies tenutosi a Torino (Italy) nel June 1991). 1-gen-1991 CAMURATI, Paolo EnricoGILLI, MARCOPRINETTO, Paolo ErnestoSONZA REORDA, Matteo -
The Selfish Gene Algorithm: a New Evolutionary Optimization Strategy / Corno, Fulvio; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - (1998), pp. 349-355. (Intervento presentato al convegno SAC) [10.1145/330560.330838]. 1-gen-1998 CORNO, FulvioSONZA REORDA, MatteoSQUILLERO, Giovanni -
The training environment for the course on microprocessor systems at the Politecnico di Torino / Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (1998). (Intervento presentato al convegno WCAE '98 Proceedings of the 1998 workshop on Computer architecture education) [10.1145/1275182.1275190]. 1-gen-1998 REBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
The use of model checking in ATPG for sequential circuits / Camurati, Paolo Enrico; Gilli, Marco; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - 531:(1991), pp. 86-95. (Intervento presentato al convegno Computer-Aided Verification 2nd International Conference, CAV '90 tenutosi a New Brunswick, NJ (USA) nel June 18-21, 1990) [10.1007/BFb0023722]. 1-gen-1991 CAMURATI, Paolo EnricoGILLI, MARCOPRINETTO, Paolo ErnestoSONZA REORDA, Matteo -
Towards an automatic approach for hardware verification according to ISO 26262 functional safety standard / Sini, Jacopo; Sonza Reorda, Matteo; Violante, Massimo; Sarson, Peter. - ELETTRONICO. - (2018). (Intervento presentato al convegno 24th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS) tenutosi a Platja d’Aro, Costa Brava (ESP) nel July 2-4, 2018) [10.1109/IOLTS.2018.8474083]. 1-gen-2018 Sini, JacopoSonza Reorda, MatteoViolante, Massimo + camera_ready.pdf; Towards_an_automatic_approach_for_hardware_verification_according_to_ISO_26262_functional_safety_standard.pdf
Towards Making Fault Injection on Abstract Models a More Accurate Tool for Predicting RT-Level Effects / Flenker, Tino; Malburg, Jan; Fey, Goerschwin; Avramenko, Serhiy; Violante, Massimo; SONZA REORDA, Matteo. - 2017-:(2017), pp. 533-538. (Intervento presentato al convegno 2017 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, ISVLSI 2017 tenutosi a deu nel 2017) [10.1109/ISVLSI.2017.99]. 1-gen-2017 AVRAMENKO, SERHIYVIOLANTE, MASSIMOSONZA REORDA, MATTEO + -
Transformation-based peak power reduction for test sequences / Corno, Fulvio; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Violante, Massimo. - (1999), pp. 78-83. (Intervento presentato al convegno Low-Power Design, 1999. Proceedings. IEEE Alessandro Volta Memorial Workshop on tenutosi a Como, I nel 4-5 Mar 1999) [10.1109/LPD.1999.750406]. 1-gen-1999 CORNO, FulvioREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, MatteoVIOLANTE, MASSIMO -
Uncovering hidden vulnerabilities in CNNs through evolutionary-based Image Test Libraries / Turco, V.; Ruospo, A.; Gavarini, G.; Sanchez, E.; Sonza Reorda, M.. - (2023). (Intervento presentato al convegno International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems tenutosi a Juan-Les-Pins (FR) nel 03-05 October 2023) [10.1109/DFT59622.2023.10313530]. 1-gen-2023 V. TurcoA. RuospoG. GavariniE. SanchezM. Sonza Reorda Uncovering_hidden_vulnerabilities_in_CNNs_through_evolutionary-based_Image_Test_Libraries.pdf
Understanding the Effects of Permanent Faults in GPU's Parallelism Management and Control Units / Guerrero-Balaguera, Juan-David; Rodriguez Condia, Josie E.; dos Santos, Fernando F.; Sonza, Matteo; Rech, Paolo. - ELETTRONICO. - (2023), pp. 1-14. (Intervento presentato al convegno SC23: International Conference for High Performance Computing, Networking, Storage and Analysis tenutosi a Denver CO (USA) nel November 12 - 17, 2023) [10.1145/3581784.3607086]. 1-gen-2023 Juan-David Guerrero-BalagueraJosie E. Rodriguez CondiaMatteo SonzaPaolo Rech + sc_2023_nvbitpermfi.pdf; 3581784.3607086.pdf
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 470
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Autore
  • REBAUDENGO, MAURIZIO 116
  • CORNO, Fulvio 97
  • VIOLANTE, MASSIMO 97
  • BERNARDI, PAOLO 87
  • SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO 71
  • SQUILLERO, GIOVANNI 70
  • PRINETTO, Paolo Ernesto 66
  • CANTORO, RICCARDO 45
  • GROSSO, MICHELANGELO 43
  • STERPONE, LUCA 38
Data di pubblicazione
  • In corso di stampa 2
  • 2020 - 2024 70
  • 2010 - 2019 128
  • 2000 - 2009 167
  • 1990 - 1999 99
  • 1988 - 1989 4
Editore
  • IEEE 131
  • IEEE Computer Society 44
  • Springer 24
  • Institute of Electrical and Elect... 19
  • IEEE - INST ELECTRICAL ELECTRONIC... 17
  • ACM Press 7
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 6
  • IEEE / Institute of Electrical an... 4
  • ACM 3
  • ieee 3
Rivista
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 22
Serie
  • ... IEEE ... INTERNATIONAL SYMPOS... 1
  • IFIP ADVANCES IN INFORMATION AND ... 1
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 1
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 1
  • PROCEEDINGS IEEE COMPUTER SOCIETY... 1
Keyword
  • Reliability 12
  • SBST 12
  • Graphics Processing Units (GPUs) 11
  • Safety 10
  • Electrical and Electronic Enginee... 9
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  • fault simulation 7
  • Reliability and Quality 7
  • Risk 7
  • software-based self-test 7
Lingua
  • eng 286
  • ger 1
  • ita 1
Accesso al fulltext
  • no fulltext 359
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  • reserved 37
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