We developed a tool for the reliability analysis of SEU effects on the configuration memory of Xilinx Zynq SRAM-based FPGAs. A proton radiation test campaign on different TMR layouts demonstrated the effectiveness of our approach.

Soft Error Reliability Prediction of SRAM-based FPGA Designs / Vacca, Eleonora; Azimi, Sarah; DE SIO, Corrado; Portaluri, Andrea; Rizzieri, Daniele; Sterpone, Luca; Merodio Codinachs, David; Poivey, Christian. - ELETTRONICO. - (2022), pp. 1-4. ((Intervento presentato al convegno IEEE Radiation and its Effects on Components and Systems 2022 tenutosi a Venice (Italy) nel October, 2022.

Soft Error Reliability Prediction of SRAM-based FPGA Designs

Eleonora Vacca;Sarah Azimi;Corrado De Sio;Andrea Portaluri;Daniele Rizzieri;Luca Sterpone;
2022

Abstract

We developed a tool for the reliability analysis of SEU effects on the configuration memory of Xilinx Zynq SRAM-based FPGAs. A proton radiation test campaign on different TMR layouts demonstrated the effectiveness of our approach.
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2971147