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Citazione Data di pubblicazione Autori File
A dynamic reconfiguration mechanism to increase the reliability of GPGPUs / Rodriguez Condia, Josie E.; Narducci, Pierpaolo; Reorda, M. Sonza; Sterpone, L.. - ELETTRONICO. - (2020), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 2020 IEEE 38th VLSI Test Symposium (VTS) tenutosi a San Diego, USA nel 5-8 April 2020) [10.1109/VTS48691.2020.9107572]. 1-gen-2020 Rodriguez Condia, Josie E.Reorda, M. SonzaSterpone, L. + 09107572.pdf
A Fault Injection Environment for Microprocessor-based Board / Benso, Alfredo; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (1998), pp. 768-773. (Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Washington (DC), USA nel 18-23 Oct. 1998) [10.1109/TEST.1998.743259]. 1-gen-1998 BENSO, AlfredoPRINETTO, Paolo ErnestoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo 1998-ITC-FaultInjection-uP.pdf
A Fault Injection Environment for SoPC's Embedded Microprocessors / M., PORTELA GARCIA; Sterpone, Luca; C., LOPEZ ONGIL; SONZA REORDA, Matteo; Violante, Massimo. - (2006), pp. 68-73. (Intervento presentato al convegno 7th IEEE Latin-American Test Workshop, Buenos Aires, Argentina). 1-gen-2006 STERPONE, LucaSONZA REORDA, MatteoVIOLANTE, MASSIMO + -
A Functional Test Algorithm for the Register Forwarding and Pipeline Interlocking unit in Pipelined Microprocessors / Bernardi, Paolo; Du, Boyang; Ciganda, LYL MERCEDES; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo; Grosso, Michelangelo; Ballan, O.. - STAMPA. - (2013). (Intervento presentato al convegno IEEE 7th International Design and Test Symposium (IDT) tenutosi a Doha (Qatar) nel December 2012) [10.1109/IDT.2013.6727120]. 1-gen-2013 BERNARDI, PAOLODU, BOYANGCIGANDA, LYL MERCEDESSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, MatteoGROSSO, MICHELANGELO + -
A genetic algorithm for automatic generation of test logic for digital circuits / Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo;  ,. - STAMPA. - (1996), pp. 10-16. (Intervento presentato al convegno ICTAI 1996 : 8th IEEE International Conference on Tools with Artificial Intelligence, 1996 tenutosi a Toulouse (France) nel Nov 16-19, 1996) [10.1109/TAI.1996.560394]. 1-gen-1996 CORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoSONZA REORDA, Matteo + -
A Genetic Algorithm for Floorplan Area Optimization / Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (1994), pp. 93-96. (Intervento presentato al convegno Evolutionary Computation, 1994. IEEE World Congress on Computational Intelligence., Proceedings of the First IEEE Conference on tenutosi a Orlando, FL, USA nel 27-29 Jun 1994) [10.1109/ICEC.1994.350035]. 1-gen-1994 REBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
A genetic algorithm for the computation of initialization sequences for synchronous sequential circuits / Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - (2001), pp. 213-218. (Intervento presentato al convegno ATS '97 tenutosi a Akita (JPN) nel 19-21 Nov. 1997) [10.1109/ATS.2001.10066]. 1-gen-2001 CORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, MatteoSQUILLERO, Giovanni -
A genetic algorithm for the computation of initialization sequences for synchronous sequential circuits / Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - (1997), pp. 56-61. (Intervento presentato al convegno ATS '97, 6th Asian Test Symposium tenutosi a Akita (JPN) nel 17-19 Nov 1997) [10.1109/ATS.1997.643917]. 1-gen-1997 CORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, MatteoSQUILLERO, Giovanni -
A Genetic Algorithm-based System for Generating Test Programs for Microprocessor IP Cores / Corno, Fulvio; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni; Violante, Massimo. - (2000), pp. 195-198. (Intervento presentato al convegno International Conference on Tools with Artificial Intelligence tenutosi a Vancouver, Canada nel November 13-15, 2000). 1-gen-2000 CORNO, FulvioSONZA REORDA, MatteoSQUILLERO, GiovanniVIOLANTE, MASSIMO -
A hardware accelerated framework for the generation of design validation programs for SMT processors / SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; Danilo, Ravotto; SONZA REORDA, Matteo. - (2010). (Intervento presentato al convegno 13th IEEE International Symposium on Design & Diagnostics of Elctronic Circuits and Systems tenutosi a Vienna, Austria nel April 2010). 1-gen-2010 SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo + -
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 467
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Autore
  • REBAUDENGO, MAURIZIO 116
  • CORNO, Fulvio 97
  • VIOLANTE, MASSIMO 97
  • BERNARDI, PAOLO 87
  • SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO 70
  • SQUILLERO, GIOVANNI 70
  • PRINETTO, Paolo Ernesto 66
  • CANTORO, RICCARDO 45
  • GROSSO, MICHELANGELO 43
  • STERPONE, LUCA 38
Data di pubblicazione
  • In corso di stampa 2
  • 2020 - 2023 68
  • 2010 - 2019 127
  • 2000 - 2009 167
  • 1990 - 1999 99
  • 1988 - 1989 4
Editore
  • IEEE 128
  • IEEE Computer Society 44
  • Springer 25
  • Institute of Electrical and Elect... 19
  • IEEE - INST ELECTRICAL ELECTRONIC... 17
  • ACM Press 7
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 6
  • IEEE / Institute of Electrical an... 4
  • ACM 3
  • ieee 3
Rivista
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 22
Serie
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 2
  • ... IEEE ... INTERNATIONAL SYMPOS... 1
  • IFIP ADVANCES IN INFORMATION AND ... 1
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 1
  • PROCEEDINGS IEEE COMPUTER SOCIETY... 1
Keyword
  • Reliability 12
  • SBST 12
  • Safety 10
  • Electrical and Electronic Enginee... 9
  • Graphics Processing Units (GPUs) 9
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  • Reliability and Quality 7
  • Risk 7
  • software-based self-test 7
  • Fault Injection 6
Lingua
  • eng 283
  • ger 1
  • ita 1
Accesso al fulltext
  • no fulltext 358
  • partially open 51
  • reserved 35
  • open 21
  • mixed 2