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RESCUE: Cross-Sectoral PhD Training Concept for Interdependent Reliability, Security and Quality / Vierhaus, Heinrich Theodor; Jenihhin, Maksim; Reorda, Matteo Sonza. - STAMPA. - (2018), pp. 45-50. (Intervento presentato al convegno 2018 12th European Workshop on Microelectronics Education (EWME)) [10.1109/EWME.2018.8629465]. 1-gen-2018 Reorda, Matteo Sonza + ewme'18-rescue_camera.pdf
Revealing GPUs Vulnerabilities by Combining Register-Transfer and Software-Level Fault Injection / Fernandes dos Santos, Fernando; Rodriguez Condia, Josie Esteban.; Carro, Luigi; Sonza Reorda, Matteo; Rech, Paolo. - ELETTRONICO. - (2021), pp. 292-304. (Intervento presentato al convegno 51st Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks, DSN 2021 tenutosi a twn nel 2021) [10.1109/DSN48987.2021.00042]. 1-gen-2021 Rodriguez Condia, Josie Esteban.Carro, LuigiSonza Reorda, MatteoRech, Paolo + dsn_2021_end.pdf; Revealing_GPUs_Vulnerabilities_by_Combining_Register-Transfer_and_Software-Level_Fault_Injection.pdf
RoRA: a reliability-oriented place and route algorithm for SRAM-based FPGAs / Sterpone, Luca; SONZA REORDA, Matteo; Violante, Massimo. - 1:(2005), pp. 173-176. [10.1109/RME.2005.1543031] 1-gen-2005 STERPONE, LucaSONZA REORDA, MatteoVIOLANTE, MASSIMO -
RT-level Fault Simulation Techniques based on Simulation Command Scripts / Corno, Fulvio; G., Cumani; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - (2000), pp. 825-830. (Intervento presentato al convegno XV Conference on Design of Circuits and Integrated Systems tenutosi a Montpellier (F) nel November 21-24, 2000). 1-gen-2000 CORNO, FulvioSONZA REORDA, MatteoSQUILLERO, Giovanni + -
SAARA: a simulated annealing algorithm for test pattern generation for digital circuits / Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (1997), pp. 228-232. (Intervento presentato al convegno SAC '97 Proceedings of the 1997 ACM symposium on Applied computing) [10.1145/331697.331745]. 1-gen-1997 CORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
Safety Evaluation of NanoFabrics / Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (2007), pp. 418-426. (Intervento presentato al convegno IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems tenutosi a Roma, Italy nel 26-28 September, 2007). 1-gen-2007 GROSSO, MICHELANGELOREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
Scan insertion criteria for low design impact / Barbagallo, S.; Lobetti Bodoni, M.; Medina, D.; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (1996), pp. 26-31. (Intervento presentato al convegno VTS 1996 : IEEE VLSI Test Symposium tenutosi a Princeton, NJ (USA) nel Apr 26 - May 1, 1996) [10.1109/VTEST.1996.510831]. 1-gen-1996 CORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoSONZA REORDA, Matteo + -
Scan-Chain Intra-Cell Defects Grading / A., Touati; A., Bosio; L., Dilillo; P., Girard; A., Virazel; Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (2015). (Intervento presentato al convegno 10th IEEE International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era (DTIS)) [10.1109/DTIS.2015.7127349]. 1-gen-2015 BERNARDI, PAOLOSONZA REORDA, Matteo + -
Self Checking Circuit Optimization by means of Fault Injection Analysis: A Case Study on Reed Solomon Decoders / S., Pontarelli; Sterpone, Luca; G. C., Cardarilli; M., Re; SONZA REORDA, Matteo; A., Salsano; Violante, Massimo. - (2007), pp. 194-196. (Intervento presentato al convegno IOLTS2007: IEEE International On-Line Testing Symposium tenutosi a Hersonissos, Greece nel July 2007). 1-gen-2007 STERPONE, LucaSONZA REORDA, MatteoVIOLANTE, MASSIMO + -
Self-checking and Fault Tolerant approaches can help BIST fault coverage: a case study / Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (1996), pp. 610-610. (Intervento presentato al convegno ED&TC 96: IEEE European Conference on Design and Test 1996 tenutosi a Paris (Francia) nel Mar 11-14, 1996) [10.1109/EDTC.1996.494374 ]. 1-gen-1996 CORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoSONZA REORDA, Matteo -
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 470
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Autore
  • REBAUDENGO, MAURIZIO 116
  • CORNO, Fulvio 97
  • VIOLANTE, MASSIMO 97
  • BERNARDI, PAOLO 87
  • SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO 71
  • SQUILLERO, GIOVANNI 70
  • PRINETTO, Paolo Ernesto 66
  • CANTORO, RICCARDO 45
  • GROSSO, MICHELANGELO 43
  • STERPONE, LUCA 38
Data di pubblicazione
  • In corso di stampa 2
  • 2020 - 2024 70
  • 2010 - 2019 128
  • 2000 - 2009 167
  • 1990 - 1999 99
  • 1988 - 1989 4
Editore
  • IEEE 131
  • IEEE Computer Society 44
  • Springer 24
  • Institute of Electrical and Elect... 19
  • IEEE - INST ELECTRICAL ELECTRONIC... 17
  • ACM Press 7
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 6
  • IEEE / Institute of Electrical an... 4
  • ACM 3
  • ieee 3
Rivista
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 22
Serie
  • ... IEEE ... INTERNATIONAL SYMPOS... 1
  • IFIP ADVANCES IN INFORMATION AND ... 1
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 1
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 1
  • PROCEEDINGS IEEE COMPUTER SOCIETY... 1
Keyword
  • Reliability 12
  • SBST 12
  • Graphics Processing Units (GPUs) 11
  • Safety 10
  • Electrical and Electronic Enginee... 9
  • Hardware and Architecture 8
  • fault simulation 7
  • Reliability and Quality 7
  • Risk 7
  • software-based self-test 7
Lingua
  • eng 286
  • ger 1
  • ita 1
Accesso al fulltext
  • no fulltext 359
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