Scan insertion criteria for low design impact / Barbagallo, S., Lobetti Bodoni, M., Medina, D., Corno, F., Prinetto, P.E., SONZA REORDA, M.. - STAMPA. - (1996), pp. 26-31. (VTS 1996 : IEEE VLSI Test Symposium Princeton, NJ (USA) Apr 26 - May 1, 1996) [10.1109/VTEST.1996.510831].

Scan insertion criteria for low design impact

CORNO, Fulvio;PRINETTO, Paolo Ernesto;SONZA REORDA, Matteo
1996

1996
0818673044
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2501227
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo