Archivio Istituzionale della RicercaScan insertion criteria for low design impact / Barbagallo, S.; Lobetti Bodoni, M.; Medina, D.; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (1996), pp. 26-31. (Intervento presentato al convegno VTS 1996 : IEEE VLSI Test Symposium tenutosi a Princeton, NJ (USA) nel Apr 26 - May 1, 1996) [10.1109/VTEST.1996.510831].
Scan insertion criteria for low design impact
CORNO, Fulvio;PRINETTO, Paolo Ernesto;SONZA REORDA, Matteo
1996
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https://hdl.handle.net/11583/2501227
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