CALLEGARO, LUCA

CALLEGARO, LUCA  

013183  

Mostra records
Risultati 1 - 14 di 14 (tempo di esecuzione: 0.027 secondi).
Citazione Data di pubblicazione Autori File
Mapping and Tracking Conductivity in Memristive Nanowire Networks with Electrical Resistance Tomography / Cultrera, Alessandro; Milano, Gianluca; Ricciardi, Carlo; Callegaro, Luca. - In: IEEE OPEN JOURNAL OF INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 2768-7236. - ELETTRONICO. - 5:(2026), pp. 1-9. [10.1109/ojim.2026.3690870] 1-gen-2026 Milano, GianlucaRicciardi, CarloCallegaro, Luca + IEEE Xplore Full-Text PDF_.pdf
A quantum resistance memristor for an intrinsically traceable International System of Units standard / Milano, G., Zheng, X., Michieletti, F., Leonetti, G., Caballero, G., Oztoprak, I., Boarino, L., Bozat, Ö., Callegaro, L., De Leo, N., Godinho, I., Granados, D., Koymen, I., Menghini, M., Miranda, E., Ribeiro, L., Ricciardi, C., Suñe, J., Cabral, V., Valov, I.. - In: NATURE NANOTECHNOLOGY. - ISSN 1748-3387. - (2025). [10.1038/s41565-025-02037-5] 1-gen-2025 Milano, GMichieletti, FLeonetti, GBoarino, LCallegaro, LRicciardi, CValov, I + 2025 Nat Nano quantum.pdf
CARATTERIZZAZIONE DI SUPERCONDENSATORI: ELETTRODI E DISPOSITIVI / Cultrera, A., Medved, J., Zucca, M., Arduino, A., Callegaro, L.. - ELETTRONICO. - (2025), pp. 303-304. (IX FORUM NAZIONALE DELLE MISURE Napoli (Ita) 10-12 Settembre 2025). 1-gen-2025 J. MedvedL. Callegaro + 2025_Caratterizzazione di supercondensatori_GMEE.pdfCaratterizzazione_GMEE2025_AC.pdf
Programmable Microwave Cluster States via Josephson Metamaterials / Alocco, A., Celotto, A., Palumbo, E., Galvano, B., Livreri, P., Fasolo, L., Callegaro, L., Enrico, E.. - (2025). 1-gen-2025 A. AloccoA. CelottoE. PalumboP. LivreriL. CallegaroE. Enrico + Programmable Microwave Cluster States via Josephson Metamaterials.pdf
Towards a realisation of the unit ohm from the quantum anomalous Hall effect at INRIM / Medved, J., Marzano, M., D'Elia, V., Ortolano, M., Cultrera, A., Callegaro, L.. - (2025). (INTERNATIONAL SCHOOL OF PHYSICS “ENRICO FERMI” Varenna (Ita) ). 1-gen-2025 Medved,JuanMarzano,MartinaOrtolano,MassimoCallegaro,Luca + Varenna_2025_Poster_Medved.pdf
Towards Quantifying Two-Mode Correlation Linewidths in Quantum Circuits / Alocco, A., Celotto, A., Fasolo, L., Galvano, B., Palumbo, E., Oberto, L., Callegaro, L., Tafuri, F.F., Livreri, P., Enrico, E.. - ELETTRONICO. - (2025), pp. 1-4. (2025 International Workshop on Integrated Nonlinear Microwave and Millimetre-Wave Circuits, INMMiC 2025 Torino (Ita) 10-11 April 2025) [10.1109/inmmic64198.2025.10975393]. 1-gen-2025 Alocco, AlessandroCelotto, AndreaFasolo, LucaPalumbo, EmanueleOberto, LucaCallegaro, LucaLivreri, PatriziaEnrico, Emanuele + Towards_Quantifying_Two-Mode_Correlation_Linewidths_in_Quantum_Circuits.pdfINMMIC_2025_Final Manuscript_Towards_Quantifying_Two_Mode_Correlation_Linewidths_in_Quantum_Circuits.pdf
Tomography of memory engrams in self-organizing nanowire connectomes / Milano, G., Cultrera, A., Boarino, L., Callegaro, L., Ricciardi, C.. - In: NATURE COMMUNICATIONS. - ISSN 2041-1723. - 14:1(2023). [10.1038/s41467-023-40939-x] 1-gen-2023 Milano, GianlucaBoarino, LucaCallegaro, LucaRicciardi, Carlo + 2023 Nat Comm engram.pdf
Recommended implementation of electrical resistance tomography for conductivity mapping of metallic nanowire networks using voltage excitation / Cultrera, A., Milano, G., De Leo, N., Ricciardi, C., Boarino, L., Callegaro, L.. - In: SCIENTIFIC REPORTS. - ISSN 2045-2322. - ELETTRONICO. - 11:1(2021), p. 13167. [10.1038/s41598-021-92208-w] 1-gen-2021 Milano G.Ricciardi C.Boarino L.Callegaro L. + 2021_scirep_tomo_Callegaro.pdf
Implementation of a graphene quantum Hall Kelvin bridge-on-a-chip for resistance calibrations / Marzano, M., Kruskopf, M., Panna, A., Rigosi, A., Patel, D., Jin, H., Cular, S., Callegaro, L., Elmquist, R.E., Ortolano, M.. - In: METROLOGIA. - ISSN 0026-1394. - STAMPA. - 57:(2020), p. 015007. [10.1088/1681-7575/ab581e] 1-gen-2020 Marzano, MartinaCallegaro, LucaOrtolano, Massimo + Marzano2019_Metrologia_postprint.pdfMarzano_2020_Metrologia_57_015007.pdf
Mapping Time-Dependent Conductivity of Metallic Nanowire Networks by Electrical Resistance Tomography toward Transparent Conductive Materials / Milano, G., Cultrera, A., Bejtka, K., De Leo, N., Callegaro, L., Ricciardi, C., Boarino, L.. - In: ACS APPLIED NANO MATERIALS. - ISSN 2574-0970. - 3:12(2020), pp. 11987-11997. [10.1021/acsanm.0c02204] 1-gen-2020 Milano G.Bejtka K.Callegaro L.Ricciardi C.Boarino L. + 2020_NW-tomo_acsanm.pdfacsanm.0c02204.pdf
Atypical quantized resistances in millimeter-scale epitaxial graphene p-n junctions / Rigosi, A.F., Patel, D., Marzano, M., Kruskopf, M., Hill, H.M., Jin, H., Hu, J., Hight Walker, A.R., Ortolano, M., Callegaro, L., Liang, C., Newell, D.B.. - In: CARBON. - ISSN 0008-6223. - ELETTRONICO. - 154:(2019), pp. 230-237. [10.1016/j.carbon.2019.08.002] 1-gen-2019 Marzano, MartinaOrtolano, MassimoCALLEGARO, LUCA + Rigosi2019_Carbon_preprint.pdf
Calibration of lock-in amplifiers in the low-frequency range / Cultrera, A., Tran, N.T.M., D’Elia, V., Ortolano, M., Callegaro, L.. - ELETTRONICO. - (2019), pp. 122-125. (23rd IMEKO TC4 International Symposium Xi’an, China September 17-20). 1-gen-2019 Ngoc Thanh Mai TranMassimo OrtolanoLuca Callegaro + -
Mapping the conductivity of graphene with Electrical Resistance Tomography / Cultrera, A., Serazio, D., Zurutuza, A., Centeno, A., Txoperena, O., Etayo, D., Cordon, A., Redo-Sanchez, A., Arnedo, I., Ortolano, M., Callegaro, L.. - In: SCIENTIFIC REPORTS. - ISSN 2045-2322. - ELETTRONICO. - 9:1(2019), p. 10655. [10.1038/s41598-019-46713-8] 1-gen-2019 Ortolano M.Callegaro L. + Cultrera2019_SciRep_9_10655.pdf
Practical Precision Electrical Impedance Measurement for the 21st Century – EMPIR Project 17RPT04 VersICal / Power, O., Ziolek, A., Elmholdt Christensen, A., Pokatilov, A., Nestor, A., Gumez, G., Kučera, J., Kaczmarek, J., Jursza, J., Callegaro, L., Ribero, L.F., Koszarny, M., Marzano, M., Ortolano, M., Kozioł, M., Tran, N.T.M., Rybski, R., D’Elia, V., Rzodkiewicz, W.. - ELETTRONICO. - (2019), p. 02001. (International Congress of Metrology 2019 ) [10.1051/metrology/201902001]. 1-gen-2019 Callegaro, LucaMarzano, MartinaOrtolano, MassimoTran, Ngoc Thanh Mai + Power2019_CIM_02001.pdf