MEDVED, JUAN IGNACIO

MEDVED, JUAN IGNACIO  

Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni  

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Calibration of magnitude error of lock-in amplifiers and noise response / Cultrera, Alessandro; Medved, Juan; Ortolano, Massimo; Durandetto, Paolo; Sosso, Andrea; Callegaro, Luca. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 1-2. (Intervento presentato al convegno Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM) tenutosi a Denver, CO (USA) nel 08-12 July 2024) [10.1109/cpem61406.2024.10646144]. 1-gen-2024 Medved, JuanOrtolano, Massimo + Cultrera2024_CPEM_postprint.pdfOrtolano-Calibration.pdf
I progetti Emphasis e Metsupercap per lo sviluppo dei supercondensatori / Cultrera, Alessandro; Zucca, Mauro; Callegaro, Luca; Hassanzadeh, Melika; Medved, Juan; Signorino, Davide. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 211-212. (Intervento presentato al convegno VIII FORUM NAZIONALE DELLE MISURE tenutosi a San Vincenzo (LI) nel 12-14 Settembre 2024). 1-gen-2024 Melika HassanzadehJuan Medved + 20240520_GMEE_Supercaps.pdfCultrera2024_GMEE_211.pdf
Il progetto QuAHMET, Quantum Anomalous Hall effect materials and devices for Metrology: attività all'INRIM / Callegaro, L.; Cassiago, C.; Cultrera, A.; D’Elia, V.; Enrico, E.; Fasolo, L.; Gasparotto, E.; Marzano, M.; Medved, J.; Ortolano, M.; Serazio, D.; Kumar, S.. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 215-216. (Intervento presentato al convegno VIII FORUM NAZIONALE DELLE MISURE tenutosi a S. Vincenzo (LI) nel 12-14 Settembre 2024). 1-gen-2024 J. MedvedM. Ortolano + 20240500_GMEE2024_QuAHMET.pdfCallegaro2024_GMEE_215.pdf
Misure su effetto Hall quantistico in criostato senza elio / Medved, J.; Callegaro, L.; Cassiago, C.; Cultrera, A.; D’Elia, V.; Enrico, E.; Gasparotto, E.; Marzano, M.; Ortolano, M.; Pierz, K.. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 205-206. (Intervento presentato al convegno VIII FORUM NAZIONALE DELLE MISURE tenutosi a S. Vincenzo (LI) nel 12-14 Settembre 2024). 1-gen-2024 J. MedvedM. Ortolano + 20240530_GMEE_Memorie_QHE.pdfMedved2024_GMEE_205.pdf
QuAHMET: Quantum anomalous Hall effect materials and devices for metrology / Marzano, Martina; Callegaro, Luca; Medved, Juan; Gould, Charles; Hoffmann, Johannes; Huang, Nathaniel; Kaneko, Nobu-Hisa; Kučera, Jan; Molenkamp, Laurens W.; Onbasli, Mehmet Cengiz; Ozbay, Aisha Gokce; Scherer, Hansjoerg; Kumar, Susmit. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 1-2. (Intervento presentato al convegno Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM) tenutosi a Denver, CO (USA) nel 08-12 July 2024) [10.1109/cpem61406.2024.10645997]. 1-gen-2024 Medved, Juan + 20240412_QuAHMET_CPEM2024_summary_paper.pdfMedved-QuAHMET.pdf
Traceable measurements of mutual inductance standards applied to large capacitance simulation in electrochemical impedance spectroscopy / Medved, Juan; Cultrera, Alessandro; Marzano, Martina; D'Elia, Vincenzo; Ortolano, Massimo; Callegaro, Luca. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 1-2. (Intervento presentato al convegno Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM) tenutosi a Denver, CO (USA) nel 08-12 July 2024) [10.1109/cpem61406.2024.10646077]. 1-gen-2024 Medved, JuanOrtolano, Massimo + Medved2024_CPEM_postprint.pdfOrtolano-Traceable.pdf
Trilateral comparison among digital and Josephson impedance bridges / Marzano, Martina; Ortolano, Massimo; Overney, Frédéric; Eichenberger, Ali L.; Kucera, Jan; D'Elia, Vincenzo; Bartova, Lucie; Medved, Juan; Callegaro, Luca. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 1-2. (Intervento presentato al convegno Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM) tenutosi a Denver, CO (USA) nel 08-12 July 2024) [10.1109/cpem61406.2024.10646159]. 1-gen-2024 Ortolano, MassimoMedved, Juan + Marzano2024_CPEM_postprint.pdfOrtolano-Trilateral.pdf