MEDVED, JUAN IGNACIO

MEDVED, JUAN IGNACIO  

Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni  

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An international trilateral comparison among the newest generations of digital and Josephson impedance bridges / Ortolano, M., Marzano, M., Overney, F., Eichenberger, A.L., Kucera, J., D'Elia, V., Bartova, L., Medved, J., Callegaro, L.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - ELETTRONICO. - 74:(2025), pp. 1-9. [10.1109/tim.2025.3541803] 1-gen-2025 Ortolano, MassimoMedved, Juan + Ortolano2025_IEEETransInstrumMeas_74_1501009.pdf
Calibration of mutual inductance standards with a fully-digital impedance bridge / Medved, J., Cultrera, A., Marzano, M., D'Elia, V., Ortolano, M., Callegaro, L.. - ELETTRONICO. - (2025). (2025 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) Chenmitz (Ger) 19-22 May 2025) [10.1109/I2MTC62753.2025.11079048]. 1-gen-2025 Medved, JuanOrtolano, Massimo + Medved2025_I2MTC_1571101206_compressed.pdfMedved2025_I2MTC_accepted_compressed.pdf
CARATTERIZZAZIONE DI SUPERCONDENSATORI: ELETTRODI E DISPOSITIVI / Cultrera, A., Medved, J., Zucca, M., Arduino, A., Callegaro, L.. - ELETTRONICO. - (2025), pp. 303-304. (IX FORUM NAZIONALE DELLE MISURE Napoli (Ita) 10-12 Settembre 2025). 1-gen-2025 J. MedvedL. Callegaro + 2025_Caratterizzazione di supercondensatori_GMEE.pdfCaratterizzazione_GMEE2025_AC.pdf
Magnitude and phase calibration of lock-in amplifiers, and analysis of the noise response / Cultrera, A., Medved, J., Durandetto, P., Ortolano, M., Sosso, A., Callegaro, L.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - 74:(2025), pp. 1-15. [10.1109/tim.2025.3553954] 1-gen-2025 Medved, JuanOrtolano, Massimo + Cultrera2025_IEEETransInstrumMeas_74_1008515.pdf
MetSuperCap: Metrology for static and dynamic characterisation of supercapacitors / Zucca, M., Al-Zubaidi-R-Smith, N., Bartova, L., Van Den Brom, H., Callegaro, L., Cultrera, A., Fast, L., Girimonte, A., Hassanzadeh, M., Mariscotti, A., Masouras, A., Medved, J., Musumeci, S., Nicol, G., Ouameur, M., Rietveld, G.. - In: MEASUREMENT. SENSORS. - ISSN 2665-9174. - (2025). (IMEKO 2024 XXIV World Congress Hamburg (Ger) 26 – 29 August 2024) [10.1016/j.measen.2024.101434]. 1-gen-2025 Hassanzadeh, MelikaMedved, JuanMusumeci, Salvatore + 2024_MetSuperCap Metrology for static and dynamic characterisation of supercapacitors_Zucca.pdf
QuAHMET: Quantum anomalous Hall effect materials and devices for metrology / Callegaro, L., Marzano, M., Medved, J., Gould, C., Hoffmann, J., Huang, N., Kaneko, N., Kucera, J., Molenkamp, L.W., Onbasli, M.C., Ozbay, A.G., Scherer, H., Kumar, S.. - In: MEASUREMENT. SENSORS. - ISSN 2665-9174. - (2025). (IMEKO 2024 XXIV World Congress Hamburg (Ger) 26 – 29 August 2024) [10.1016/j.measen.2024.101437]. 1-gen-2025 Medved, Juan + 1-s2.0-S2665917424004136-main.pdf
Towards a realisation of the unit ohm from the quantum anomalous Hall effect at INRIM / Medved, J., Marzano, M., D'Elia, V., Ortolano, M., Cultrera, A., Callegaro, L.. - (2025). (INTERNATIONAL SCHOOL OF PHYSICS “ENRICO FERMI” Varenna (Ita) ). 1-gen-2025 Medved,JuanMarzano,MartinaOrtolano,MassimoCallegaro,Luca + Varenna_2025_Poster_Medved.pdf
Calibration of magnitude error of lock-in amplifiers and noise response / Cultrera, A., Medved, J., Ortolano, M., Durandetto, P., Sosso, A., Callegaro, L.. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 1-2. (Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM) Denver, CO (USA) 08-12 July 2024) [10.1109/cpem61406.2024.10646144]. 1-gen-2024 Medved, JuanOrtolano, Massimo + Cultrera2024_CPEM_postprint.pdfOrtolano-Calibration.pdf
I progetti Emphasis e Metsupercap per lo sviluppo dei supercondensatori / Cultrera, A., Zucca, M., Callegaro, L., Hassanzadeh, M., Medved, J., Signorino, D.. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 211-212. (VIII FORUM NAZIONALE DELLE MISURE San Vincenzo (LI) 12-14 Settembre 2024). 1-gen-2024 Melika HassanzadehJuan Medved + 20240520_GMEE_Supercaps.pdfCultrera2024_GMEE_211.pdf
Il progetto QuAHMET, Quantum Anomalous Hall effect materials and devices for Metrology: attività all'INRIM / Callegaro, L., Cassiago, C., Cultrera, A., D’Elia, V., Enrico, E., Fasolo, L., Gasparotto, E., Marzano, M., Medved, J., Ortolano, M., Serazio, D., Kumar, S.. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 215-216. (VIII FORUM NAZIONALE DELLE MISURE S. Vincenzo (LI) 12-14 Settembre 2024). 1-gen-2024 J. MedvedM. Ortolano + 20240500_GMEE2024_QuAHMET.pdfCallegaro2024_GMEE_215.pdf
Misure su effetto Hall quantistico in criostato senza elio / Medved, J., Callegaro, L., Cassiago, C., Cultrera, A., D’Elia, V., Enrico, E., Gasparotto, E., Marzano, M., Ortolano, M., Pierz, K.. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 205-206. (VIII FORUM NAZIONALE DELLE MISURE S. Vincenzo (LI) 12-14 Settembre 2024). 1-gen-2024 J. MedvedM. Ortolano + 20240530_GMEE_Memorie_QHE.pdfMedved2024_GMEE_205.pdf
QuAHMET: Quantum anomalous Hall effect materials and devices for metrology / Marzano, M., Callegaro, L., Medved, J., Gould, C., Hoffmann, J., Huang, N., Kaneko, N., Kučera, J., Molenkamp, L.W., Onbasli, M.C., Ozbay, A.G., Scherer, H., Kumar, S.. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 1-2. (Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM) Denver, CO (USA) 08-12 July 2024) [10.1109/cpem61406.2024.10645997]. 1-gen-2024 Medved, Juan + 20240412_QuAHMET_CPEM2024_summary_paper.pdfMedved-QuAHMET.pdf
Traceable measurements of mutual inductance standards applied to large capacitance simulation in electrochemical impedance spectroscopy / Medved, J., Cultrera, A., Marzano, M., D'Elia, V., Ortolano, M., Callegaro, L.. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 1-2. (Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM) Denver (USA) 08-12 July 2024) [10.1109/cpem61406.2024.10646077]. 1-gen-2024 Medved, JuanOrtolano, Massimo + Medved2024_CPEM_postprint.pdfOrtolano-Traceable.pdf
Trilateral comparison among digital and Josephson impedance bridges / Marzano, M., Ortolano, M., Overney, F., Eichenberger, A.L., Kucera, J., D'Elia, V., Bartova, L., Medved, J., Callegaro, L.. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 1-2. (Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM) Denver, CO (USA) 08-12 July 2024) [10.1109/cpem61406.2024.10646159]. 1-gen-2024 Ortolano, MassimoMedved, Juan + Marzano2024_CPEM_postprint.pdfOrtolano-Trilateral.pdf