ORTOLANO, Massimo

ORTOLANO, Massimo  

Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni  

003904  

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A study on the thermal hysteresis of travelling inductance standards / Callegaro, Luca; D'Elia, Vincenzo; Marzano, Martina; Ortolano, Massimo; Florian Beug, M.; Bothe, Harald. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - ELETTRONICO. - 74:(2025), pp. 1-6. [10.1109/tim.2025.3550623] 1-gen-2025 Ortolano, Massimo + Callegaro2025_IEEETransInstrumMeas_74_1503306.pdf
An international trilateral comparison among the newest generations of digital and Josephson impedance bridges / Ortolano, Massimo; Marzano, Martina; Overney, Frédéric; Eichenberger, Ali L.; Kucera, Jan; D'Elia, Vincenzo; Bartova, Lucie; Medved, Juan; Callegaro, Luca. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - ELETTRONICO. - 74:(2025), pp. 1-9. [10.1109/tim.2025.3541803] 1-gen-2025 Ortolano, MassimoMedved, Juan + Ortolano2025_IEEETransInstrumMeas_74_1501009.pdf
Calibration of mutual inductance standards with a fully-digital impedance bridge / Medved, Juan; Cultrera, Alessandro; Marzano, Martina; D'Elia, Vicenzo; Ortolano, Massimo; Callegaro, Luca. - ELETTRONICO. - (2025). (Intervento presentato al convegno 2025 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) tenutosi a Chenmitz (Ger) nel 19-22 May 2025) [10.1109/I2MTC62753.2025.11079048]. 1-gen-2025 Medved, JuanOrtolano, Massimo + Medved2025_I2MTC_1571101206_compressed.pdfMedved2025_I2MTC_accepted_compressed.pdf
Conductivity space isotherm behavior in quantum anomalous Hall devices / Tran, N. T. M.; Ortiz Jimenez, V.; Musso, M.; Rodenbach, L. K.; Andersen, M. P.; Hill, H. M.; Zhang, P.; Tai, L.; Wang, K. L.; Marzano, M.; Ortolano, M.; Newell, D. B.; Richter, C. A.; Rigosi, A. F.. - In: AIP ADVANCES. - ISSN 2158-3226. - 15:7(2025). [10.1063/5.0278373] 1-gen-2025 Musso, M.Ortolano, M. + Tran2025_AIPAdvances_075023.pdf
Graphene-based quantum Hall arrays in cross–square recursion configurations / Tran, N. T. M.; Musso, M.; Scaletta, D. S.; Lin, W. -C.; Ortiz Jimenez, V.; Jarrett, D. G.; Ortolano, M.; Richter, C. A.; Liang, C. -T.; Newell, D. B.; Rigosi, A. F.. - In: AIP ADVANCES. - ISSN 2158-3226. - ELETTRONICO. - 15:8(2025), pp. 1-8. [10.1063/5.0290385] 1-gen-2025 Musso, M.Ortolano, M. + Tran2025_AIPAdvances 15_085225.pdf
Implementation of a 1 GΩ Star-Mesh Graphene Quantized Hall Array Resistance Standard Network for High Resistance Calibration / Musso, Marta; Lin, Wei-Chen; Yang, Yanfei; Tran, Ngoc Thanh Mai; Panna, Alireza R.; Yang, Cheng-Hsueh; Elmquist, Randolph E.; Newell, David B.; Liang, Chi-Te; Ortolano, Massimo; Rigosi, Albert F.; Jarrett, Dean G.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - ELETTRONICO. - 74:(2025), pp. 1-12. [10.1109/tim.2025.3581627] 1-gen-2025 Musso, MartaOrtolano, Massimo + Musso2025_IEEETransInstrumMeas_74_1506512.pdf
Magnitude and phase calibration of lock-in amplifiers, and analysis of the noise response / Cultrera, Alessandro; Medved, Juan; Durandetto, Paolo; Ortolano, Massimo; Sosso, Andrea; Callegaro, Luca. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - 74:(2025), pp. 1-15. [10.1109/tim.2025.3553954] 1-gen-2025 Medved, JuanOrtolano, Massimo + Cultrera2025_IEEETransInstrumMeas_74_1008515.pdf
Accurate resistance comparators with ratiometric digital multimeters / Ortolano, M.; Marzano, M.; Durandetto, P.; D'Elia, V.; Enrico, E.; Callegaro, L.. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 1-2. (Intervento presentato al convegno Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM) tenutosi a Denver, CO (USA) nel 08-12 July 2024) [10.1109/cpem61406.2024.10646107]. 1-gen-2024 Ortolano, M. + Ortolano2024_CPEM_postprint.pdfOrtolano-Accurate.pdf
Calibration of magnitude error of lock-in amplifiers and noise response / Cultrera, Alessandro; Medved, Juan; Ortolano, Massimo; Durandetto, Paolo; Sosso, Andrea; Callegaro, Luca. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 1-2. (Intervento presentato al convegno Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM) tenutosi a Denver, CO (USA) nel 08-12 July 2024) [10.1109/cpem61406.2024.10646144]. 1-gen-2024 Medved, JuanOrtolano, Massimo + Cultrera2024_CPEM_postprint.pdfOrtolano-Calibration.pdf
Il progetto QuAHMET, Quantum Anomalous Hall effect materials and devices for Metrology: attività all'INRIM / Callegaro, L.; Cassiago, C.; Cultrera, A.; D’Elia, V.; Enrico, E.; Fasolo, L.; Gasparotto, E.; Marzano, M.; Medved, J.; Ortolano, M.; Serazio, D.; Kumar, S.. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 215-216. (Intervento presentato al convegno VIII FORUM NAZIONALE DELLE MISURE tenutosi a S. Vincenzo (LI) nel 12-14 Settembre 2024). 1-gen-2024 J. MedvedM. Ortolano + 20240500_GMEE2024_QuAHMET.pdfCallegaro2024_GMEE_215.pdf
Longitudinal Impedance Measurements on Graphene QHE Devices / Overney, Frédéric; Eichenberger, Ali L.; Bauer, Stephan; Ortolano, Massimo; Marzano, Martina; Yin, Yefei; Kruskopf, Mattias. - ELETTRONICO. - 2:(2024), pp. 1-2. (Intervento presentato al convegno Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM) tenutosi a Denver, CO (USA) nel 08-12 July 2024) [10.1109/cpem61406.2024.10645982]. 1-gen-2024 Ortolano, Massimo + Overney2024_CPEM_postprint.pdfOrtolano-Longitudinal.pdf
Misure su effetto Hall quantistico in criostato senza elio / Medved, J.; Callegaro, L.; Cassiago, C.; Cultrera, A.; D’Elia, V.; Enrico, E.; Gasparotto, E.; Marzano, M.; Ortolano, M.; Pierz, K.. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 205-206. (Intervento presentato al convegno VIII FORUM NAZIONALE DELLE MISURE tenutosi a S. Vincenzo (LI) nel 12-14 Settembre 2024). 1-gen-2024 J. MedvedM. Ortolano + 20240530_GMEE_Memorie_QHE.pdfMedved2024_GMEE_205.pdf
Thermal hysteresis of travelling inductance standards / Callegaro, Luca; D'Elia, Vincenzo; Marzano, Martina; Ortolano, Massimo; Beug, M. Florian; Bothe, Harald. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 1-2. (Intervento presentato al convegno Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM) tenutosi a Denver, CO (USA) nel 08-12 July 2024) [10.1109/cpem61406.2024.10646046]. 1-gen-2024 Ortolano, Massimo + Callegaro2024_CPEM_postprint.pdfOrtolano-Thermal.pdf
Traceable measurements of mutual inductance standards applied to large capacitance simulation in electrochemical impedance spectroscopy / Medved, Juan; Cultrera, Alessandro; Marzano, Martina; D'Elia, Vincenzo; Ortolano, Massimo; Callegaro, Luca. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 1-2. (Intervento presentato al convegno Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM) tenutosi a Denver (USA) nel 08-12 July 2024) [10.1109/cpem61406.2024.10646077]. 1-gen-2024 Medved, JuanOrtolano, Massimo + Medved2024_CPEM_postprint.pdfOrtolano-Traceable.pdf
Trilateral comparison among digital and Josephson impedance bridges / Marzano, Martina; Ortolano, Massimo; Overney, Frédéric; Eichenberger, Ali L.; Kucera, Jan; D'Elia, Vincenzo; Bartova, Lucie; Medved, Juan; Callegaro, Luca. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 1-2. (Intervento presentato al convegno Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM) tenutosi a Denver, CO (USA) nel 08-12 July 2024) [10.1109/cpem61406.2024.10646159]. 1-gen-2024 Ortolano, MassimoMedved, Juan + Marzano2024_CPEM_postprint.pdfOrtolano-Trilateral.pdf
A simple and accurate resistance comparator with a long-scale ratiometric digital multimeter / Marzano, Martina; D’Elia, Vincenzo; Ortolano, Massimo; Callegaro, Luca. - ELETTRONICO. - (2023), pp. 39-42. (Intervento presentato al convegno 26th IMEKO TC4 International Symposium tenutosi a Pordenone nel 20-21 settembre 2023). 1-gen-2023 Massimo Ortolano + Marzano2023_IMEKO-TC4.pdf
Virtual Training Laboratory for Primary Impedance Metrology / Kaczmarek, Janusz; Ortolano, Massimo; Power, Oliver; Kucera, Jan; Callegaro, Luca; D'Elia, Vincenzo; Marzano, Martina; Walsh, Robert; Koziol, Miroslaw; Rybski, Ryszard. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - STAMPA. - 72:(2023), p. 1001312. [10.1109/TIM.2022.3223140] 1-gen-2023 Massimo Ortolano + Kaczmarek2023_IEEETransInstrumMeas_72_1001312.pdf
A resistance comparator based on a long-scale digital voltmeter / Marzano, Martina; D’Elia, Vincenzo; Ortolano, Massimo; Callegaro, Luca. - ELETTRONICO. - (2022), pp. 1-2. (Intervento presentato al convegno 2022 Conference on Precision Electromagnetic Measurements tenutosi a Wellington (NZ) nel 12-16 Dicembre 2022). 1-gen-2022 Massimo Ortolano + Marzano2022b_CPEM_1.pdf
An application of the capacitance build-up method to capacitance scaling / Tran, NGOC THANH MAI; D’Elia, Vincenzo; Callegaro, Luca; Ortolano, Massimo. - ELETTRONICO. - (2022), pp. 1-2. (Intervento presentato al convegno 2022 Conference on Precision Electromagnetic Measurements tenutosi a Wellington (NZ) nel 12-16 Dicembre 2022). 1-gen-2022 Ngoc Thanh Mai TranMassimo Ortolano + Tran2022_CPEM_1.pdf
Good practice guide on the graphene-based AC-QHE realization of the farad / Callegaro, Luca; Bauer, Stephan; Jeanneret, Blaise; Kruskopf, Mattias; Marzano, Martina; Ortolano, Massimo; Overney, Frederic. - ELETTRONICO. - (2022), pp. 1-48. [10.48550/arXiv.2205.04915] 1-gen-2022 Ortolano, Massimo + Ortolano-Graphene.pdf