Archivio Istituzionale della RicercaMEDVED, JUAN IGNACIO
MEDVED, JUAN IGNACIO
Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
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An international trilateral comparison among the newest generations of digital and Josephson impedance bridges
2025 Ortolano, Massimo; Marzano, Martina; Overney, Frédéric; Eichenberger, Ali L.; Kucera, Jan; D'Elia, Vincenzo; Bartova, Lucie; Medved, Juan; Callegaro, Luca
Magnitude and phase calibration of lock-in amplifiers, and analysis of the noise response
2025 Cultrera, Alessandro; Medved, Juan; Durandetto, Paolo; Ortolano, Massimo; Sosso, Andrea; Callegaro, Luca
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| An international trilateral comparison among the newest generations of digital and Josephson impedance bridges / Ortolano, M., Marzano, M., Overney, F., Eichenberger, A.L., Kucera, J., D'Elia, V., Bartova, L., Medved, J., Callegaro, L.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - ELETTRONICO. - 74:(2025), pp. 1-9. [10.1109/tim.2025.3541803] | 1-gen-2025 | Ortolano, MassimoMedved, Juan + | Ortolano2025_IEEETransInstrumMeas_74_1501009.pdf |
| Magnitude and phase calibration of lock-in amplifiers, and analysis of the noise response / Cultrera, A., Medved, J., Durandetto, P., Ortolano, M., Sosso, A., Callegaro, L.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - 74:(2025), pp. 1-15. [10.1109/tim.2025.3553954] | 1-gen-2025 | Medved, JuanOrtolano, Massimo + | Cultrera2025_IEEETransInstrumMeas_74_1008515.pdf |