Archivio Istituzionale della RicercaExploiting post-silicon debug hardware to improve the fault coverage of Software Test Libraries / Cantoro, Riccardo; Garau, Francesco; Masante, Riccardo; Sartoni, Sandro; Singh, Virendra; Reorda, Matteo Sonza. - (2022), pp. 1-7. (Intervento presentato al convegno 2022 IEEE 40th VLSI Test Symposium (VTS) tenutosi a San Diego (USA) nel 25-27 Aprile 2022) [10.1109/VTS52500.2021.9794219].
Exploiting post-silicon debug hardware to improve the fault coverage of Software Test Libraries
Cantoro, Riccardo;Garau, Francesco;Masante, Riccardo;Sartoni, Sandro;Reorda, Matteo Sonza
2022
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VTS22___Exploiting_post_silicon_debug_hardware_to_improve_the_fault_coverage_of_Software_Test_Libraries__CAMERA_READY_.pdf
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https://hdl.handle.net/11583/2968143