Exploiting post-silicon debug hardware to improve the fault coverage of Software Test Libraries / Cantoro, Riccardo; Garau, Francesco; Masante, Riccardo; Sartoni, Sandro; Singh, Virendra; Reorda, Matteo Sonza. - (2022), pp. 1-7. ((Intervento presentato al convegno 2022 IEEE 40th VLSI Test Symposium (VTS) tenutosi a San Diego (USA) nel 25-27 Aprile 2022 [10.1109/VTS52500.2021.9794219].

Exploiting post-silicon debug hardware to improve the fault coverage of Software Test Libraries

Cantoro, Riccardo;Garau, Francesco;Masante, Riccardo;Sartoni, Sandro;Reorda, Matteo Sonza
2022

978-1-6654-1060-1
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11583/2968143