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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

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Citazione Data di pubblicazione Autori File
Using ER Models for Microprocessor Functional Test Coverage Evaluation / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Savino, Alessandro; Scionti, A.. - STAMPA. - (2008), pp. 139-142. (Intervento presentato al convegno IEEE 11th International Biennial Baltic Electronics Conference (BEC) tenutosi a Tallinn, EE nel 6-8 Oct. 2008) [10.1109/BEC.2008.4657498]. 1-gen-2008 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo ErnestoSAVINO, ALESSANDRO + 2008-BEC-ER-AuthorVersion.pdf
Using symbolic techniques to find the maximum clique in very large sparse graphs / Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - (1995). (Intervento presentato al convegno European Design and Test Conference, 1995. ED&TC 1995) [10.1109/EDTC.1995.470377]. 1-gen-1995 CORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoSONZA REORDA, Matteo -
Validation & Verification of an EDA automated synthesis tool / DI CARLO, Stefano; Gambardella, Giulio; Indaco, Marco; Rolfo, Daniele; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2011), pp. 48-52. (Intervento presentato al convegno IEEE 6th International Design and Test Workshop (IDT) tenutosi a Beirut, LI nel 11-14 Dec. 2011) [10.1109/IDT.2011.6123100]. 1-gen-2011 DI CARLO, STEFANOGAMBARDELLA, GIULIOINDACO, MARCOROLFO, DANIELEPRINETTO, Paolo Ernesto 2011-IDT-Cache-AuthorVersion.pdf
Validation of a software dependability tool via fault injection experiments / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Tagliaferri, Luca; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2001), pp. 3-8. (Intervento presentato al convegno IEEE 7th International On-Line Testing Workshop (IOLTW) tenutosi a Taormina, IT nel 9-11 July 2001) [10.1109/OLT.2001.937809]. 1-gen-2001 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioTAGLIAFERRI, LucaPRINETTO, Paolo Ernesto 2001-IOLTS-SIHFT-AuthorVersion.pdf2001-IOLTS-SIHFT.pdf
VOVHDL: A verification-oriented dialect of VHDL / Camurati, Paolo Enrico; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; C., Bayol; B., Soulas. - STAMPA. - (1993), pp. 37-47. (Intervento presentato al convegno VFE'93: VHDL Forum for CAD in Europe: Fall '93 Meeting tenutosi a Hamburg (Germany) nel Sept 23, 1993). 1-gen-1993 CAMURATI, Paolo EnricoCORNO, FulvioPRINETTO, Paolo Ernesto + -
ZipStream: improving dependability in Dynamic Partial Reconfiguration / DI CARLO, Stefano; Gambardella, Giulio; Huynh Bao, T.; Prinetto, Paolo Ernesto; Rolfo, Daniele; Trotta, Pascal. - ELETTRONICO. - (2013), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno IEEE 8th International Design and Test Symposium (IDT) tenutosi a Marrakesh, MA nel 16-18 Dec. 2013) [10.1109/IDT.2013.6727128]. 1-gen-2013 DI CARLO, STEFANOGAMBARDELLA, GIULIOPRINETTO, Paolo ErnestoROLFO, DANIELETROTTA, PASCAL + 2012-IDT-ZIPSTREAM-AuthorVersion.pdf
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 246
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 246
Autore
  • DI CARLO, STEFANO 80
  • SONZA REORDA, MATTEO 66
  • CORNO, Fulvio 53
  • BENSO, ALFREDO 44
  • REBAUDENGO, MAURIZIO 33
  • CAMURATI, Paolo Enrico 30
  • DI NATALE, GIORGIO 24
  • MEZZALAMA, MARCO 24
  • CHIUSANO, SILVIA ANNA 23
  • INDACO, MARCO 17
Data di pubblicazione
  • In corso di stampa 2
  • 2020 - 2023 14
  • 2010 - 2019 62
  • 2000 - 2009 64
  • 1990 - 1999 75
  • 1980 - 1989 25
  • 1978 - 1979 4
Editore
  • IEEE Computer Society 83
  • IEEE 43
  • Institute of Electrical and Elect... 11
  • Springer 8
  • CEUR Workshop Proceedings 4
  • IEEE Computer Society Press 4
  • IEEE / Institute of Electrical an... 3
  • North-Holland Publishing Co. 3
  • SPD FL Stepanov V.V.Ukraine, 6116... 3
  • Acta Press 2
Rivista
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 8
  • 2016 IEEE 34th VLSI Test Symposiu... 1
Serie
  • CEUR WORKSHOP PROCEEDINGS 4
Keyword
  • DIGITAL SYSTEM DESIGN TEST AND VE... 88
  • Automatic testing 15
  • System testing 15
  • Random access memory 12
  • Circuit faults 11
  • Reliability 9
  • Application software 8
  • Digital systems 8
  • Fault detection 8
  • Circuit testing 7
Lingua
  • eng 203
  • ger 2
Accesso al fulltext
  • no fulltext 143
  • open 90
  • partially open 9
  • reserved 4