Automatic Functional Stress Pattern Generation for SoC Reliability Characterization / Appello, D.; Bernardi, Paolo; Cagliesi, R.; Giancarlini, M.; Grosso, Michelangelo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - (2009). (Intervento presentato al convegno 14th IEEE European Test Symposium, 2009) [10.1109/ETS.2009.16].
Automatic Functional Stress Pattern Generation for SoC Reliability Characterization
BERNARDI, PAOLO;GROSSO, MICHELANGELO;SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO;SONZA REORDA, Matteo
2009
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https://hdl.handle.net/11583/2500507
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