Automatic Functional Stress Pattern Generation for SoC Reliability Characterization / Appello, D., Bernardi, P., Cagliesi, R., Giancarlini, M., Grosso, M., SANCHEZ SANCHEZ, E.E., SONZA REORDA, M.. - (2009). (14th IEEE European Test Symposium, 2009 ) [10.1109/ETS.2009.16].
Automatic Functional Stress Pattern Generation for SoC Reliability Characterization
BERNARDI, PAOLO;GROSSO, MICHELANGELO;SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO;SONZA REORDA, Matteo
2009
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https://hdl.handle.net/11583/2500507
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