Automatic Functional Stress Pattern Generation for SoC Reliability Characterization / Appello, D.; Bernardi, Paolo; Cagliesi, R.; Giancarlini, M.; Grosso, Michelangelo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - (2009). (Intervento presentato al convegno 14th IEEE European Test Symposium, 2009) [10.1109/ETS.2009.16].

Automatic Functional Stress Pattern Generation for SoC Reliability Characterization

BERNARDI, PAOLO;GROSSO, MICHELANGELO;SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO;SONZA REORDA, Matteo
2009

2009
9780769537030
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2500507
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo