An enhanced strategy for functional stress pattern generation for system-on-chip reliability characterization / de Carvalho M.; Bernardi P.; Sanchez E.; Sonza Reorda M.. - ELETTRONICO. - (2010). ((Intervento presentato al convegno 2010 11th International Workshop on Microprocessor Test and Verification 2010 tenutosi a Austin (USA) nel 13-15 December 2010.
Titolo: | An enhanced strategy for functional stress pattern generation for system-on-chip reliability characterization | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2010 | |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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MTV_3_Polito.pdf | 2. Post-print / Author's Accepted Manuscript | Non Pubblico - Accesso privato/ristretto | Administrator Richiedi una copia |
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http://hdl.handle.net/11583/2381295
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