Archivio Istituzionale della RicercaAn enhanced strategy for functional stress pattern generation for system-on-chip reliability characterization / DE CARVALHO, Mauricio; Bernardi, Paolo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - ELETTRONICO. - (2010). (Intervento presentato al convegno 2010 11th International Workshop on Microprocessor Test and Verification 2010 tenutosi a Austin (USA) nel 13-15 December 2010).
An enhanced strategy for functional stress pattern generation for system-on-chip reliability characterization
DE CARVALHO, MAURICIO;BERNARDI, PAOLO;SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO;SONZA REORDA, Matteo
2010
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https://hdl.handle.net/11583/2381295
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