Archivio Istituzionale della RicercaDfT Reuse for Low-Cost Radiation Testing of SoCs: A Case Study / Appello, D., Bernardi, P., Gerardin, S., Grosso, M., Paccagnella, A., Rech, P., SONZA REORDA, M.. - (2009), pp. 276-281. (27th IEEE VLSI Test Symposium (VTS '09) Santa Cruz, USA May 2009) [10.1109/VTS.2009.26].
DfT Reuse for Low-Cost Radiation Testing of SoCs: A Case Study
BERNARDI, PAOLO;GROSSO, MICHELANGELO;P. RECH;SONZA REORDA, Matteo
2009
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https://hdl.handle.net/11583/2285646
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