Archivio Istituzionale della RicercaAn Automatic Functional Stress Pattern Generation Technique Suitable for SoC Reliability Characterization / Appello, D., Bernardi, P., Bruno, M., Cagliesi, R., Giancarlini, M., Grosso, M., SANCHEZ SANCHEZ, E.E., SONZA REORDA, M.. - (2008). (2nd IEEE International Workshop on Automated Test Equipment: Vision ATE 2020 ).
An Automatic Functional Stress Pattern Generation Technique Suitable for SoC Reliability Characterization
BERNARDI, PAOLO;GROSSO, MICHELANGELO;SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO;SONZA REORDA, Matteo
2008
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https://hdl.handle.net/11583/1877307
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