An Effective Approach for the Diagnosis of Transition-Delay Faults in SoCs, based on SBST and Scan Chains / LAGOS BENITES, J; Appello, D; Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Ravotto, Danilo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - (2007), pp. 291-299. ((Intervento presentato al convegno DFT2007, 22th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems.

An Effective Approach for the Diagnosis of Transition-Delay Faults in SoCs, based on SBST and Scan Chains

BERNARDI, PAOLO;GROSSO, MICHELANGELO;RAVOTTO, DANILO;SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO;SONZA REORDA, Matteo
2007

9789780769529
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