VACCA, ELEONORA

VACCA, ELEONORA  

Dipartimento di Automatica e Informatica  

058723  

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Citazione Data di pubblicazione Autori File
Exploring the Impact of Soft Errors on the Reliability of Real-Time Embedded Operating Systems / Azimi, Sarah; DE SIO, Corrado; Portaluri, Andrea; Rizzieri, Daniele; Vacca, Eleonora; Sterpone, Luca; Merodio Codinachs, David. - In: ELECTRONICS. - ISSN 2079-9292. - 12:1(2023), p. 169. [10.3390/electronics12010169] 1-gen-2023 Sarah AzimiCorrado De SioAndrea PortaluriDaniele RizzieriEleonora VaccaLuca Sterpone + electronics-12-00169.pdf
Failure rate analysis of radiation tolerant design techniques on SRAM-based FPGAs / Vacca, Eleonora; Azimi, Sarah; Sterpone, Luca. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - ELETTRONICO. - 138:(2022). [10.1016/j.microrel.2022.114778] 1-gen-2022 Vacca, EleonoraAzimi, SarahSterpone, Luca microelectronics_reliability_camera_ready.pdf3220228.3220229.pdf