Archivio Istituzionale della RicercaFILIPPONI, GABRIELE
FILIPPONI, GABRIELE
Dipartimento di Automatica e Informatica
067548
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In-field Data Collection System through Logic BIST for large Automotive Systems-on-Chip
2022 Filipponi, G.; Iaria, G.; Sonza Reorda, M.; Appello, D.; Garozzo, G.; Tancorre, V.
Online scheduling of concurrent Memory BISTs execution at Real-Time Operating-System level
2022 Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; Tempesta, Claudia; SONZA REORDA, Matteo; Appello, Davide; Ugioli, Roberto; Tancorre, Vincenzo
An Optimized Burn-In Stress Flow targeting Interconnections logic to Embedded Memories in Automotive Systems-on-Chip
2022 Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; SONZA REORDA, Matteo; Appello, Davide; Tancorre, Vincenzo; Ugioli, Roberto
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| In-field Data Collection System through Logic BIST for large Automotive Systems-on-Chip / Filipponi, G.; Iaria, G.; Sonza Reorda, M.; Appello, D.; Garozzo, G.; Tancorre, V.. - (2022), pp. 646-649. (Intervento presentato al convegno 2022 IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Anaheim (USA) nel 23-30 September 2022) [10.1109/ITC50671.2022.00090]. | 1-gen-2022 | Filipponi, G.Iaria, G.Sonza Reorda, M. + | In-field_Data_Collection_System_through_Logic_BIST_for_large_Automotive_Systems-on-Chip.pdf |
| Online scheduling of concurrent Memory BISTs execution at Real-Time Operating-System level / Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; Tempesta, Claudia; SONZA REORDA, Matteo; Appello, Davide; Ugioli, Roberto; Tancorre, Vincenzo. - (2022). (Intervento presentato al convegno International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems tenutosi a Austin (USA) nel 19-21 October 2022) [10.1109/DFT56152.2022.9962338]. | 1-gen-2022 | Francesco AngionePaolo BernardiGabriele FilipponiClaudia TempestaMatteo Sonza Reorda + | Online_scheduling_of_concurrent_Memory_BISTs_execution_at_Real-Time_Operating-System_level.pdf |
| An Optimized Burn-In Stress Flow targeting Interconnections logic to Embedded Memories in Automotive Systems-on-Chip / Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; SONZA REORDA, Matteo; Appello, Davide; Tancorre, Vincenzo; Ugioli, Roberto. - (2022), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno IEEE European Test Symposium tenutosi a Barcelona (Spain) nel 23-27 May 2022) [10.1109/ETS54262.2022.9810396]. | 1-gen-2022 | Francesco ANGIONEPaolo BERNARDIGabriele FILIPPONIMatteo SONZA REORDA + | An_Optimized_Burn-In_Stress_Flow_targeting_Interconnections_logic_to_Embedded_Memories_in_Automotive_Systems-on-Chip.pdf |