Automatic Identification of Functionally Untestable Cell-Aware Faults in Microprocessors / Deligiannis, Nikolaos; Faller, Tobias; Iacopo, Guglielminetti; Cantoro, Riccardo; Becker, Bernd; SONZA REORDA, Matteo. - (In corso di stampa). (Intervento presentato al convegno Asian Test Symposium (ATS)).

Automatic Identification of Functionally Untestable Cell-Aware Faults in Microprocessors

Nikolaos Deligiannis;Riccardo Cantoro;Matteo Sonza Reorda
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2982242