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EnglishIndustrial best practice: cases of study by automotive chip- makers / Abbati, L. Degli; Ullmann, R.; Paganini, G.; Coppetta, M.; Zaia, L.; Huard, V.; Montfort, O.; Cantoro, R.; Insinga, G.; Venini, F.; Calao, P.; Bernardi, P.. - (2021), pp. 1-6. ((Intervento presentato al convegno 2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) [10.1109/DFT52944.2021.9568350].
| Titolo: | Industrial best practice: cases of study by automotive chip- makers | |
| Autori: | ||
| Data di pubblicazione: | 2021 | |
| ISBN: | 978-1-6654-1609-2 | |
| Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
File in questo prodotto:
| File | Descrizione | Tipologia | Licenza | |
|---|---|---|---|---|
| Industrial_best_practice_cases_of_study_by_automotive_chip-_makers.pdf | 2a Post-print versione editoriale / Version of Record | Non Pubblico - Accesso privato/ristretto | Administrator Richiedi una copia |
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http://hdl.handle.net/11583/2939953
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