On the in-field test of embedded memories / Bernardi, Paolo; Restifo, Marco; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - (2017). (Intervento presentato al convegno 23rd IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design).
On the in-field test of embedded memories
BERNARDI, PAOLO;RESTIFO, MARCO;SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO;SONZA REORDA, MATTEO
2017
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/2675063
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo