Archivio Istituzionale della RicercaOn the in-field test of embedded memories / Bernardi, P., Restifo, M., SANCHEZ SANCHEZ, E.E., SONZA REORDA, M.. - (2017). (23rd IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design ).
On the in-field test of embedded memories
BERNARDI, PAOLO;RESTIFO, MARCO;SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO;SONZA REORDA, MATTEO
2017
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https://hdl.handle.net/11583/2675063
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