Robustness in Automotive Electronics: an industrial overview of major concerns / Backhausen, U., Ballan, O., Bernardi, P., Luca, S.D., Henzler, J., Kern, T., Piumatti, D., Rabenalt, T., Ramamoorthy, K.C., SANCHEZ SANCHEZ, E.E., Sansonetti, A., Ullmann, R., Venini, F., Wiesner, R.. - (2017). (23rd IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design ).

Robustness in Automotive Electronics: an industrial overview of major concerns

BERNARDI, PAOLO;PIUMATTI, DAVIDE;SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO;VENINI, FEDERICO;
2017

File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2675060
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo