Archivio Istituzionale della RicercaRobustness in Automotive Electronics: an industrial overview of major concerns / Backhausen, Ulrich; Ballan, Oscar; Bernardi, Paolo; Luca, Sergio De; Henzler, Julie; Kern, Thomas; Piumatti, Davide; Rabenalt, Thomas; Ramamoorthy, Krishnapriya Chakiat; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; Sansonetti, Alessandro; Ullmann, Rudolf; Venini, Federico; Wiesner, Robert. - (2017). (Intervento presentato al convegno 23rd IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design).
Robustness in Automotive Electronics: an industrial overview of major concerns
BERNARDI, PAOLO;PIUMATTI, DAVIDE;SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO;VENINI, FEDERICO;
2017
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https://hdl.handle.net/11583/2675060
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