Archivio Istituzionale della RicercaOn the In-field Testing of Spare Modules in Automotive Microprocessors / Piumatti, D., Bernardi, P., SANCHEZ SANCHEZ, E.E., Regis, S., Luca, S.D., Sansonetti, A.. - (2017). (25th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC) ).
On the In-field Testing of Spare Modules in Automotive Microprocessors
PIUMATTI, DAVIDE;BERNARDI, PAOLO;SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO;
2017
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https://hdl.handle.net/11583/2675059
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