On the In-field Testing of Spare Modules in Automotive Microprocessors / Piumatti, Davide; Bernardi, Paolo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; Regis, Simone; Luca, Segio De; Sansonetti, Alessandro. - (2017). (Intervento presentato al convegno 25th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC)).

On the In-field Testing of Spare Modules in Automotive Microprocessors

PIUMATTI, DAVIDE;BERNARDI, PAOLO;SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO;
2017

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2675059
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