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In-field functional test programs development flow for embedded FPUs / Cantoro, Riccardo; Piumatti, Davide; Bernardi, Paolo; De Luca, S.; Sansonetti, A.. - STAMPA. - (2016), pp. 107-110. (Intervento presentato al convegno 2016 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) tenutosi a Storrs (USA) nel 19-20 Sept. 2016) [10.1109/DFT.2016.7684079].

In-field functional test programs development flow for embedded FPUs

CANTORO, RICCARDO;PIUMATTI, DAVIDE;BERNARDI, PAOLO;
2016
2016
978-1-5090-3623-3
978-1-5090-3623-3
4.1 Contributo in Atti di convegno
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