Archivio Istituzionale della RicercaIncreasing the Fault Coverage of Processor Devices during the Operational Phase Functional Test / DE CARVALHO, Mauricio; Bernardi, Paolo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo; Ballan, O.. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - ELETTRONICO. - 30:(2014), pp. 317-328. [10.1007/s10836-014-5457-5]
Increasing the Fault Coverage of Processor Devices during the Operational Phase Functional Test
DE CARVALHO, MAURICIO;BERNARDI, PAOLO;SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO;SONZA REORDA, MATTEO;
2014
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https://hdl.handle.net/11583/2551736
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