A Programmable BIST for DRAM Testing and Diagnosis / Grosso, Michelangelo; Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo; Y., Zhang. - (2010). (Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference tenutosi a Austin, USA nel November 2010).

A Programmable BIST for DRAM Testing and Diagnosis

GROSSO, MICHELANGELO;BERNARDI, PAOLO;SONZA REORDA, Matteo;
2010

2010
9781424472055
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