Archivio Istituzionale della RicercaAnalysis of Root Causes of Alpha Sensitivity Variations on Microprocessors Manufactured using Different Cell Layouts / Rech, P.; Grosso, Michelangelo; Melchiori, F.; Loparco, D.; Appello, D.; Dilillo, L.; Paccagnella, A.; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (2010), pp. 29-34. (Intervento presentato al convegno IEEE 16th International On-Line Testing Symposium tenutosi a corfu (greece) nel july 2010).
Analysis of Root Causes of Alpha Sensitivity Variations on Microprocessors Manufactured using Different Cell Layouts
P. Rech;GROSSO, MICHELANGELO;SONZA REORDA, Matteo
2010
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https://hdl.handle.net/11583/2372200
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