Archivio Istituzionale della RicercaAnalysis of Root Causes of Alpha Sensitivity Variations on Microprocessors Manufactured using Different Cell Layouts / Rech, P., Grosso, M., Melchiori, F., Loparco, D., Appello, D., Dilillo, L., Paccagnella, A., SONZA REORDA, M.. - STAMPA. - (2010), pp. 29-34. (IEEE 16th International On-Line Testing Symposium corfu (greece) july 2010).
Analysis of Root Causes of Alpha Sensitivity Variations on Microprocessors Manufactured using Different Cell Layouts
P. Rech;GROSSO, MICHELANGELO;SONZA REORDA, Matteo
2010
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https://hdl.handle.net/11583/2372200
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