Archivio Istituzionale della RicercaEmbedded Memory Diagnosis: An Industrial Workflow / Appello, D; Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Tancorre, V.. - (2006), pp. 1-9. (Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference ITC tenutosi a Santa Clara, CA, USA nel 24-26 Ottobre 2006) [10.1109/TEST.2006.297672].
Embedded Memory Diagnosis: An Industrial Workflow
BERNARDI, PAOLO;GROSSO, MICHELANGELO;REBAUDENGO, Maurizio;SONZA REORDA, Matteo;
2006
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https://hdl.handle.net/11583/1651310
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