YANG, WEITAO
 Distribuzione geografica
Continente #
EU - Europa 233
NA - Nord America 190
AS - Asia 69
OC - Oceania 2
Continente sconosciuto - Info sul continente non disponibili 1
SA - Sud America 1
Totale 496
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 184
GB - Regno Unito 85
IT - Italia 79
DE - Germania 27
CN - Cina 26
SG - Singapore 14
IE - Irlanda 12
HK - Hong Kong 10
RU - Federazione Russa 9
BE - Belgio 8
CA - Canada 6
TR - Turchia 6
SE - Svezia 5
MY - Malesia 4
ID - Indonesia 3
AU - Australia 2
CH - Svizzera 2
JP - Giappone 2
BG - Bulgaria 1
CO - Colombia 1
EU - Europa 1
FI - Finlandia 1
FR - Francia 1
IN - India 1
JO - Giordania 1
KR - Corea 1
LT - Lituania 1
NL - Olanda 1
PK - Pakistan 1
UA - Ucraina 1
Totale 496
Città #
Southend 82
Chandler 44
Council Bluffs 20
Turin 19
Princeton 16
Dublin 12
Torino 11
Berlin 10
Singapore 9
Brussels 8
Boardman 7
Xi'an 6
Beijing 5
Santa Clara 5
Ann Arbor 4
Cagliari 4
Como 4
Frankfurt am Main 4
Istanbul 4
Moscow 4
New York 4
Ashburn 3
Elk Grove Village 3
Jakarta 3
Redwood City 3
Toronto 3
Wilmington 3
Augusta 2
Cambridge 2
Central 2
Chicago 2
Eggenfelden 2
Fairfield 2
Glen Burnie 2
Houston 2
Kocaeli 2
Nürnberg 2
Reggio Nell'emilia 2
St Petersburg 2
Vancouver 2
Woodbridge 2
Amsterdam 1
Andover 1
Basking Ridge 1
Bengaluru 1
Bern 1
Büdelsdorf 1
Chengdu 1
Espoo 1
Falls Church 1
Grugliasco 1
Guangzhou 1
Gunzenhausen 1
Haar 1
Havant 1
Herisau 1
Huskvarna 1
Idaho Falls 1
Irimacho 1
Islamabad 1
Lyon 1
Medellín 1
Melbourne 1
Menlo Park 1
Norwalk 1
Phoenix 1
Potsdam 1
Redmond 1
Rivoli 1
Rockville 1
San Donato Milanese 1
Seattle 1
Secaucus 1
Seoul 1
Sofia 1
Valdagno 1
Villar Perosa 1
Zhengzhou 1
Totale 365
Nome #
Research on Reliability of Nanoscale System on Chips 109
Electron inducing soft errors in 28 nm system-on-Chip 101
A New Single Event Transient Hardened Floating Gate Configurable Logic Circuit 96
Investigation of Single Event Effect in 28nm System-on-Chip with Multi Patterns 89
Reliability assessment on 16 nm ultrascale+ MPSoC using fault injection and fault tree analysis 87
Reliability Assessment of Nanoscale System on Chip Depending on Neturon Irradiation 44
Totale 526
Categoria #
all - tutte 1.852
article - articoli 1.079
book - libri 0
conference - conferenze 310
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 3.241


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2020/2021111 7 5 20 4 3 4 2 13 9 22 15 7
2021/2022129 5 4 6 8 8 6 1 9 9 10 17 46
2022/2023150 12 25 6 14 11 17 5 11 8 10 12 19
2023/202478 9 13 2 0 5 7 9 6 2 1 11 13
2024/202558 0 26 4 24 4 0 0 0 0 0 0 0
Totale 526