Reliability assessment on 16 nm ultrascale+ MPSoC using fault injection and fault tree analysis / Yang, Weitao; Du, Boyang; He, Chaohui; Sterpone, Luca. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 120:(2021), p. 114122. [10.1016/j.microrel.2021.114122]

Reliability assessment on 16 nm ultrascale+ MPSoC using fault injection and fault tree analysis

Yang, Weitao;Du, Boyang;Sterpone, Luca
2021

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: http://hdl.handle.net/11583/2895360