Reliability assessment on 16 nm ultrascale+ MPSoC using fault injection and fault tree analysis / Yang, Weitao; Du, Boyang; He, Chaohui; Sterpone, Luca. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 120:(2021), p. 114122. [10.1016/j.microrel.2021.114122]
Reliability assessment on 16 nm ultrascale+ MPSoC using fault injection and fault tree analysis
Yang, Weitao;Du, Boyang;Sterpone, Luca
2021
File in questo prodotto:
File | Dimensione | Formato | |
---|---|---|---|
1-s2.0-S0026271421000883-main.pdf
non disponibili
Tipologia:
2a Post-print versione editoriale / Version of Record
Licenza:
Non Pubblico - Accesso privato/ristretto
Dimensione
1.02 MB
Formato
Adobe PDF
|
1.02 MB | Adobe PDF | Visualizza/Apri Richiedi una copia |
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/2895360