INSINGA, GIORGIO

INSINGA, GIORGIO  

Dipartimento di Automatica e Informatica  

059760  

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Citazione Data di pubblicazione Autori File
Built-In Self-Test Architecture Enabling Diagnosis for Massive Embedded Memory Banks in Large SoCs / Bernardi, Paolo; Guerriero, Augusto Maria; Insinga, Giorgio; Paganini, Giovanni; Carnevale, Giambattista; Coppetta, Matteo; Mischo, Walter; Ullmann, Rudolf. - In: ELECTRONICS. - ISSN 2079-9292. - 13:2(2024). [10.3390/electronics13020303] 1-gen-2024 Bernardi, PaoloInsinga, GiorgioPaganini, Giovanni + electronics-13-00303.pdf