INSINGA, GIORGIO
INSINGA, GIORGIO
Dipartimento di Automatica e Informatica
059760
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Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
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Built-In Self-Test Architecture Enabling Diagnosis for Massive Embedded Memory Banks in Large SoCs / Bernardi, Paolo; Guerriero, Augusto Maria; Insinga, Giorgio; Paganini, Giovanni; Carnevale, Giambattista; Coppetta, Matteo; Mischo, Walter; Ullmann, Rudolf. - In: ELECTRONICS. - ISSN 2079-9292. - 13:2(2024). [10.3390/electronics13020303] | 1-gen-2024 | Bernardi, PaoloInsinga, GiorgioPaganini, Giovanni + | electronics-13-00303.pdf |