Archivio Istituzionale della RicercaIARIA, GIUSY
IARIA, GIUSY
Dipartimento di Automatica e Informatica
047390
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A Comprehensive Scan Test Cost Model to Optimize the Production of very large SoCs
In corso di stampa Iaria, Giusy; Bernardi, Paolo; Bertani, Claudia; Cardone, Lorenzo; Garozzo, Giuseppe; Tancorre, Vincenzo
Logic Diagnosis Based on Logic Built-In Self-Test Signatures Collected In-Field from Failing System-on-Chips
2024 Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; Iaria, Giusy; Bertani, Claudia; Tancorre, Vincenzo
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| A Comprehensive Scan Test Cost Model to Optimize the Production of very large SoCs / Iaria, Giusy; Bernardi, Paolo; Bertani, Claudia; Cardone, Lorenzo; Garozzo, Giuseppe; Tancorre, Vincenzo. - In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS. - ISSN 0018-9340. - (In corso di stampa). | In corso di stampa | Iaria, GiusyBernardi, PaoloCardone, Lorenzo + | - |
| Logic Diagnosis Based on Logic Built-In Self-Test Signatures Collected In-Field from Failing System-on-Chips / Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; Iaria, Giusy; Bertani, Claudia; Tancorre, Vincenzo. - In: ELECTRONICS. - ISSN 2079-9292. - 13:21(2024). [10.3390/electronics13214234] | 1-gen-2024 | Paolo BernardiGabriele FilipponiGiusy Iaria + | electronics-13-04234.pdf |