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VATAJELU, ELENA IOANA

VATAJELU, ELENA IOANA  

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New Metrics for Spin Transfer Torque (STT) MRAM Cell Robustness Estimation / Vatajelu, ELENA IOANA; R., Rodriguez Montañés; Indaco, Marco; M., Renovell; Prinetto, Paolo Ernesto; J., Figueras. - ELETTRONICO. - (In corso di stampa). (Intervento presentato al convegno Design, Automation & Test in Europe Conference 2015). In corso di stampa VATAJELU, ELENA IOANAINDACO, MARCOPRINETTO, Paolo Ernesto + -
On the impact of supply voltage variation on the statistical reliability of a Spin-transfer-torque MRAM (STT-MRAM) / Vatajelu, ELENA IOANA; R., Rodriguez Montañés; Indaco, Marco; M., Renovell; Prinetto, Paolo Ernesto; J., Figueras. - ELETTRONICO. - (In corso di stampa). (Intervento presentato al convegno Design of Circuits and Integrated Systems tenutosi a Madrid). In corso di stampa VATAJELU, ELENA IOANAINDACO, MARCOPRINETTO, Paolo Ernesto + -
Resiliency approaches in Convolutional, Photonic, and Spiking Neural Networks / Bosio, Alberto; Gomes, Mauricio; Pavanello, Fabio; Porsia, Antonio; Ruospo, Annachiara; Sanchez, Ernesto; Vatajelu, Elena Ioana. - ELETTRONICO. - (2024), pp. 1-10. (Intervento presentato al convegno 2024 IEEE 25th Latin American Test Symposium (LATS) tenutosi a Maceió (BRA) nel 09-12 April 2024) [10.1109/LATS62223.2024.10534615]. 1-gen-2024 Bosio, AlbertoPavanello, FabioPorsia, AntonioRuospo, AnnachiaraSanchez, ErnestoVatajelu, Elena Ioana + LATS24_SpecialSession.pdf; Resiliency_Approaches_in_Convolutional_Photonic_and_Spiking_Neural_Networks.pdf
Security Primitives (PUF and TRNG) with STT-MRAM / Vatajelu, ELENA IOANA; Di Natale, G.; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: 2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS). - ELETTRONICO. - 2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS):(2016), pp. 1-4. (Intervento presentato al convegno 2016 IEEE 34th VLSI Test Symposium (VTS)) [10.1109/VTS.2016.7477292]. 1-gen-2016 VATAJELU, ELENA IOANAPRINETTO, Paolo Ernesto + -
STT-MRAM-based PUF architecture exploiting magnetic tunnel junction fabrication-induced variability / Vatajelu, ELENA IOANA; Di Natale, Giorgio; Barbareschi, Mario; Torres, Lionel; Indaco, Marco; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: ACM JOURNAL ON EMERGING TECHNOLOGIES IN COMPUTING SYSTEMS. - ISSN 1550-4832. - 13:1(2016), pp. 1-21. [10.1145/2790302] 1-gen-2016 VATAJELU, ELENA IOANAINDACO, MARCOPRINETTO, Paolo Ernesto + 2790302.pdf
Towards a Highly Reliable SRAM-based PUFs / Vatajelu, ELENA IOANA; Di Natale, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - ELETTRONICO. - (2016), pp. 273-276. (Intervento presentato al convegno 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)) [10.3850/9783981537079_0753]. 1-gen-2016 VATAJELU, ELENA IOANAPRINETTO, Paolo Ernesto + -
Nonvolatile Memories: Present and Future Challenges / Vatajelu, ELENA IOANA; H., Aziza; C., Zambelli. - ELETTRONICO. - (2015). (Intervento presentato al convegno International Test Symposium 2014). 1-gen-2015 VATAJELU, ELENA IOANA + -
Power-aware voltage tuning for STT-MRAM reliability / Vatajelu, ELENA IOANA; Rodriguez Montanes, R.; DI CARLO, Stefano; Indaco, Marco; Renovell, M.; Prinetto, Paolo Ernesto; Figueras, J.. - ELETTRONICO. - (2015), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 20th IEEE European Test Symposium (ETS) tenutosi a Cluj-Napoca, RO nel 25-29 May 2015) [10.1109/ETS.2015.7138748]. 1-gen-2015 VATAJELU, ELENA IOANADI CARLO, STEFANOINDACO, MARCOPRINETTO, Paolo Ernesto + ETS.2015.MRAM.pdf
Read/Write Robustness Estimation Metrics for Spin Transfer Torque (STT) MRAM Cell / Vatajelu, ELENA IOANA; Rodriguez Montañés, Rosa; Indaco, Marco; Renovell, Michel; Prinetto, Paolo Ernesto; Figueras, Joan. - ELETTRONICO. - (2015), pp. 447-452. (Intervento presentato al convegno 2015 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)) [10.7873/DATE.2015.0822]. 1-gen-2015 VATAJELU, ELENA IOANAINDACO, MARCOPRINETTO, Paolo Ernesto + -
STT MRAM-Based PUFs / Vatajelu, ELENA IOANA; G., Di Natale; Indaco, Marco; Prinetto, Paolo Ernesto. - ELETTRONICO. - (2015), pp. 872-875. (Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe) [10.7873/DATE.2015.0505]. 1-gen-2015 VATAJELU, ELENA IOANAINDACO, MARCOPRINETTO, Paolo Ernesto + 07092507.pdf
STT-MRAM cell reliability evaluation under process, voltage and temperature (PVT) variations / Vatajelu, ELENA IOANA; Rodriguez Montanes, Rosa; Indaco, Marco; Prinetto, Paolo Ernesto; Figueras, Joan. - ELETTRONICO. - (2015), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 2015 10th IEEE International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, DTIS 2015 tenutosi a ita nel 2015) [10.1109/DTIS.2015.7127377]. 1-gen-2015 VATAJELU, ELENA IOANAINDACO, MARCOPRINETTO, Paolo Ernesto + -
STT-MRAM-based strong PUF architecture / Vatajelu, ELENA IOANA; Di Natale, Giorgio; Torres, Lionel; Prinetto, Paolo Ernesto. - ELETTRONICO. - 07-10-:(2015), pp. 467-472. (Intervento presentato al convegno IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI, ISVLSI 2015 tenutosi a fra nel 2015) [10.1109/ISVLSI.2015.128]. 1-gen-2015 VATAJELU, ELENA IOANAPRINETTO, Paolo Ernesto + -
On the impact of process variability and aging on the reliability of emerging memories (Embedded tutorial)2014 19th IEEE European Test Symposium (ETS) / Indaco, Marco; Prinetto, Paolo Ernesto; Vatajelu, ELENA IOANA. - ELETTRONICO. - (2014), pp. 1-10. (Intervento presentato al convegno European Test Symposium 2014) [10.1109/ETS.2014.6847813]. 1-gen-2014 INDACO, MARCOPRINETTO, Paolo ErnestoVATAJELU, ELENA IOANA -