On the impact of process variability and aging on the reliability of emerging memories (Embedded tutorial)2014 19th IEEE European Test Symposium (ETS) / Marco Indaco;Paolo Prinetto;Elena I. Vatajelu. - ELETTRONICO. - (2014), pp. 1-10. ((Intervento presentato al convegno European Test Symposium 2014 [10.1109/ETS.2014.6847813].
Titolo: | On the impact of process variability and aging on the reliability of emerging memories (Embedded tutorial)2014 19th IEEE European Test Symposium (ETS) | |
Autori: | ||
Data di pubblicazione: | 2014 | |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
http://hdl.handle.net/11583/2587974
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.