On the impact of process variability and aging on the reliability of emerging memories (Embedded tutorial)2014 19th IEEE European Test Symposium (ETS) / Indaco, Marco; Prinetto, Paolo Ernesto; Vatajelu, ELENA IOANA. - ELETTRONICO. - (2014), pp. 1-10. (Intervento presentato al convegno European Test Symposium 2014) [10.1109/ETS.2014.6847813].
On the impact of process variability and aging on the reliability of emerging memories (Embedded tutorial)2014 19th IEEE European Test Symposium (ETS)
INDACO, MARCO;PRINETTO, Paolo Ernesto;VATAJELU, ELENA IOANA
2014
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https://hdl.handle.net/11583/2587974
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