STT-MRAM cell reliability evaluation under process, voltage and temperature (PVT) variations / Vatajelu, ELENA IOANA; Rodriguez Montanes, Rosa; Indaco, Marco; Prinetto, Paolo Ernesto; Figueras, Joan. - ELETTRONICO. - (2015), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 2015 10th IEEE International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, DTIS 2015 tenutosi a ita nel 2015) [10.1109/DTIS.2015.7127377].

STT-MRAM cell reliability evaluation under process, voltage and temperature (PVT) variations

VATAJELU, ELENA IOANA;INDACO, MARCO;PRINETTO, Paolo Ernesto;
2015

2015
9781479919994
9781479919994
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2644364
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo