Archivio Istituzionale della RicercaSTT-MRAM cell reliability evaluation under process, voltage and temperature (PVT) variations / Vatajelu, E.I., Rodriguez Montanes, R., Indaco, M., Prinetto, P.E., Figueras, J.. - ELETTRONICO. - (2015), pp. 1-6. (2015 10th IEEE International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, DTIS 2015 ita 2015) [10.1109/DTIS.2015.7127377].
STT-MRAM cell reliability evaluation under process, voltage and temperature (PVT) variations
VATAJELU, ELENA IOANA;INDACO, MARCO;PRINETTO, Paolo Ernesto;
2015
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https://hdl.handle.net/11583/2644364
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