Archivio Istituzionale della RicercaWANG, CHANGHAO
WANG, CHANGHAO
Dipartimento di Automatica e Informatica
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Device-Aware Test for Anomalous Charge Trapping in FeFETs
2025 Yuan, Sicong; Wang, Changhao; Fieback, Moritz; Xun, Hanzhi; Taouil, Mottaqiallah; Li, Xiuyan; Wang, Lin; Chen, Danyang; Bellarmino, Nicolò; Cantoro, Riccardo; Hamdioui, Said
Device-Aware Test for Threshold Voltage Shifting in FeFET
2025 Wang, Changhao; Kolahimahmoudi, Nima; Bellarmino, Nicolo; Cantoro, Riccardo; Yuan, Sicong; Xun, Hanzhi; Chen, Danyang; Yin, Chujun; Taouil, Mottaqiallah; Fieback, Moritz; Li, Xiuyan; Wang, Lin; Li, Chaobo; Hamdioui, Said
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Device-Aware Test for Anomalous Charge Trapping in FeFETs / Yuan, S., Wang, C., Fieback, M., Xun, H., Taouil, M., Li, X., Wang, L., Chen, D., Bellarmino, N., Cantoro, R., Hamdioui, S.. - (2025), pp. 635-641. (30th Asia and South Pacific Design Automation Conference ASP-DAC 2025 Tokyo (JPN) Jan. 20-23, 2025) [10.1145/3658617.3697755]. | 1-gen-2025 | Changhao WangNicolò BellarminoRiccardo CantoroSaid Hamdioui + | 3658617.3697755.pdf |
| Device-Aware Test for Threshold Voltage Shifting in FeFET / Wang, C., Kolahimahmoudi, N., Bellarmino, N., Cantoro, R., Yuan, S., Xun, H., Chen, D., Yin, C., Taouil, M., Fieback, M., Li, X., Wang, L., Li, C., Hamdioui, S.. - (2025), pp. 410-413. (IEEE International Test Conference 2025 San Diego (USA) 20-26 September 2025) [10.1109/ITC58126.2025.00052]. | 1-gen-2025 | Wang, ChanghaoKolahimahmoudi, NimaBellarmino, NicoloCantoro, RiccardoHamdioui, Said + | 2025_ITC__Device_Aware_Test_for_voltage_shifting_in_FeFET__4_pages_.pdf; Device-Aware_Test_for_Threshold_Voltage_Shifting_in_FeFET.pdf |