Archivio Istituzionale della RicercaMIRABELLA, NUNZIO
MIRABELLA, NUNZIO
Dipartimento di Automatica e Informatica
068077
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An Experimental Evaluation of Resistive Defects and Different Testing Solutions in Low-Power Back-Biased SRAM Cells
2022 Mirabella, N.; Grosso, M.; Franchino, G.; Rinaudo, S.; Deretzis, I.; La Magna, A.; Reorda, M. S.
Testing single via related defectsin digital VLSI designs
2021 Mirabella, Nunzio; Ricci, Maurizio; Calà, Ignazio; Lanza, Roberto; Grosso, Michelangelo
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| An Experimental Evaluation of Resistive Defects and Different Testing Solutions in Low-Power Back-Biased SRAM Cells / Mirabella, N.; Grosso, M.; Franchino, G.; Rinaudo, S.; Deretzis, I.; La Magna, A.; Reorda, M. S.. - In: ELECTRONICS. - ISSN 2079-9292. - ELETTRONICO. - 11:2(2022), p. 203. [10.3390/electronics11020203] | 1-gen-2022 | Mirabella N.Grosso M.Reorda M. S. + | electronics-11-00203.pdf; MDPI_Paper.pdf |
| Testing single via related defectsin digital VLSI designs / Mirabella, Nunzio; Ricci, Maurizio; Calà, Ignazio; Lanza, Roberto; Grosso, Michelangelo. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - ELETTRONICO. - 120 (114100):(2021). [10.1016/j.microrel.2021.114100] | 1-gen-2021 | Mirabella, NunzioGrosso, Michelangelo + | singlevia_microrel_v04.pdf; 1-s2.0-S0026271421000664-main (1).pdf |