Archivio Istituzionale della RicercaTISSEUR, RICCARDO
TISSEUR, RICCARDO
Dipartimento di Automatica e Informatica
024273
The EcoThermo project: key and innovative aspects
2015 Bari, F.; Mereu, D.; Damarco, Chiara; Greco, Cosimo; Malan, Stefano; Marchetto, Guido; ROA TIRADO, Sebastian; Tisseur, Riccardo; Violante, Massimo; Zangari, Giuseppe; Caruso, Sebastiano; Masoero, Marco Carlo; Saba, Fabio
A Green's function approach to the analysis of non volatile memory device variability as a function of individual trap position
2013 Tisseur, Riccardo; DONATI GUERRIERI, Simona; Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni; Benvenuti, A.; Ghetti, A.
Green’s function based simulation of trap-induced device variability
2012 Tisseur, Riccardo; Bonani, Fabrizio; DONATI GUERRIERI, Simona; Ghione, Giovanni
Modeling and simulation of noise in transistors under large-signal condition
2011 Bonani, Fabrizio; DONATI GUERRIERI, Simona; Ghione, Giovanni; Tisseur, Riccardo
Microwave device optimization through efficient numerical simulation
2010 Tisseur, Riccardo; Bertazzi, Francesco; Bonani, Fabrizio; DONATI GUERRIERI, Simona; Ghione, Giovanni
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| The EcoThermo project: key and innovative aspects / Bari, F.; Mereu, D.; Damarco, Chiara; Greco, Cosimo; Malan, Stefano; Marchetto, Guido; ROA TIRADO, Sebastian; Tisseur, Riccardo; Violante, Massimo; Zangari, Giuseppe; Caruso, Sebastiano; Masoero, Marco Carlo; Saba, Fabio. - In: ENERGY PROCEDIA. - ISSN 1876-6102. - ELETTRONICO. - (2015), pp. 2977-2982. (Intervento presentato al convegno 6th International Building Physics Conference, IBPC 2015 tenutosi a Torino nel 15-17 June 2015) [10.1016/j.egypro.2015.11.697]. | 1-gen-2015 | DAMARCO, CHIARAGRECO, CosimoMALAN, STEFANOMARCHETTO, GUIDOROA TIRADO, SEBASTIANTISSEUR, RICCARDOVIOLANTE, MASSIMOZANGARI, GIUSEPPECARUSO, SEBASTIANOMASOERO, Marco CarloSABA, FABIO + | 1-s2.0-S1876610215024297-main.pdf |
| A Green's function approach to the analysis of non volatile memory device variability as a function of individual trap position / Tisseur, Riccardo; DONATI GUERRIERI, Simona; Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni; Benvenuti, A.; Ghetti, A.. - STAMPA. - (2013). (Intervento presentato al convegno International Conference on Noise and Fluctuations tenutosi a Montpellier, France nel 24-28 June) [10.1109/ICNF.2013.6578931]. | 1-gen-2013 | TISSEUR, RICCARDODONATI GUERRIERI, SimonaBONANI, FabrizioGHIONE, GIOVANNI + | - |
| Green’s function based simulation of trap-induced device variability / Tisseur, Riccardo; Bonani, Fabrizio; DONATI GUERRIERI, Simona; Ghione, Giovanni. - STAMPA. - Proceedings of GE2012:(2012), pp. 28-29. (Intervento presentato al convegno XLIV riunione annuale del Gruppo Elettronica tenutosi a Marina di Carrara nel 20-22 Giugno 2012). | 1-gen-2012 | TISSEUR, RICCARDOBONANI, FabrizioDONATI GUERRIERI, SimonaGHIONE, GIOVANNI | 6_Tisseur.pdf |
| Modeling and simulation of noise in transistors under large-signal condition / Bonani, Fabrizio; DONATI GUERRIERI, Simona; Ghione, Giovanni; Tisseur, Riccardo. - ELETTRONICO. - (2011), pp. 10-15. (Intervento presentato al convegno 21st International Conference on Noise and Fluctuations tenutosi a Toronto, Canada nel 12-16 June). | 1-gen-2011 | BONANI, FabrizioDONATI GUERRIERI, SimonaGHIONE, GIOVANNITISSEUR, RICCARDO | 2425179.pdf |
| Microwave device optimization through efficient numerical simulation / Tisseur, Riccardo; Bertazzi, Francesco; Bonani, Fabrizio; DONATI GUERRIERI, Simona; Ghione, Giovanni. - (2010). (Intervento presentato al convegno XLII riunione annuale del Gruppo Elettronica nel Monte Porzio Catone). | 1-gen-2010 | TISSEUR, RICCARDOBERTAZZI, FRANCESCOBONANI, FabrizioDONATI GUERRIERI, SimonaGHIONE, GIOVANNI | GE2010_Tisseur.pdf |