Green’s function based simulation of trap-induced device variability / Tisseur, Riccardo; Bonani, Fabrizio; DONATI GUERRIERI, Simona; Ghione, Giovanni. - STAMPA. - Proceedings of GE2012:(2012), pp. 28-29. (Intervento presentato al convegno XLIV riunione annuale del Gruppo Elettronica tenutosi a Marina di Carrara nel 20-22 Giugno 2012).
Green’s function based simulation of trap-induced device variability
TISSEUR, RICCARDO;BONANI, Fabrizio;DONATI GUERRIERI, Simona;GHIONE, GIOVANNI
2012
File in questo prodotto:
File | Dimensione | Formato | |
---|---|---|---|
6_Tisseur.pdf
accesso aperto
Tipologia:
Altro materiale allegato
Licenza:
PUBBLICO - Tutti i diritti riservati
Dimensione
1.41 MB
Formato
Adobe PDF
|
1.41 MB | Adobe PDF | Visualizza/Apri |
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/2497863
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo