PORTO @ Archivio Istituzionale della Ricerca

Defects, Fault Modeling, and Test Development Framework for FeFETs / Wang, Changhao; Yuan, Sicong; Xun, Hanzhi; Li, Chaobo; Taouil, Mottaqiallah; Fieback, Moritz; Chen, Danyang; Li, Xiuyan; Wang, Lin; Cantoro, Riccardo; Yin, Chujun; Hamdioui, Said. - (In corso di stampa). (Intervento presentato al convegno International Test Conference (ITC) 2024 tenutosi a San Diego (USA) nel 3-8 Novembre 2024).

Defects, Fault Modeling, and Test Development Framework for FeFETs

Riccardo, Cantoro;Said, Hamdioui
In corso di stampa
In corso di stampa
4.1 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
2024_ITC_A_framework_of_defect_oritned_testing_for_FeFETs_2.pdf

accesso aperto

Tipologia: 2. Post-print / Author's Accepted Manuscript
Licenza: Pubblico - Tutti i diritti riservati
Dimensione 605.67 kB
Formato Adobe PDF
Visualizza/Apri
605.67 kB Adobe PDF Visualizza/Apri
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2993967