Archivio Istituzionale della RicercaEffective Screening of Automotive SoCs by Combining Burn-In and System Level Test / COSTA DE ALMEIDA, A.F., Bernardi, P., Calabrese, D., Restifo, M., Reorda, M.S., Appello, D., Pollaccia, G., Tancorre, V., Ugioli, R., Zoppi, G.. - STAMPA. - (2019). (22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2019 rou 2019) [10.1109/DDECS.2019.8724644].
Effective Screening of Automotive SoCs by Combining Burn-In and System Level Test
COSTA DE ALMEIDA, ANTONIO FELIPE;Bernardi P.;Restifo M.;Reorda M. S.;
2019
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https://hdl.handle.net/11583/2741775
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