Effective Screening of Automotive SoCs by Combining Burn-In and System Level Test / COSTA DE ALMEIDA, ANTONIO FELIPE; Bernardi, P.; Calabrese, D.; Restifo, M.; Reorda, M. S.; Appello, D.; Pollaccia, G.; Tancorre, V.; Ugioli, R.; Zoppi, G.. - STAMPA. - (2019). (Intervento presentato al convegno 22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2019 tenutosi a rou nel 2019) [10.1109/DDECS.2019.8724644].
Effective Screening of Automotive SoCs by Combining Burn-In and System Level Test
COSTA DE ALMEIDA, ANTONIO FELIPE;Bernardi P.;Restifo M.;Reorda M. S.;
2019
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https://hdl.handle.net/11583/2741775
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