Archivio Istituzionale della RicercaThis special session discusse different issues regarding the application of approximate computing to verification, test and reliability.
Special session: How approximate computing impacts verification, test and reliability / Sekanina, L.; Vasicek, Z.; Bosio, A.; Traiola, M.; Rech, P.; Oliveria, D.; Fernandes, F.; Di Carlo, S.. - ELETTRONICO. - 2018:(2018), pp. 1-1. (Intervento presentato al convegno 36th IEEE VLSI Test Symposium, VTS 2018 tenutosi a San Francisco, USA nel 22-25 April, 2018) [10.1109/VTS.2018.8368628].
Special session: How approximate computing impacts verification, test and reliability
Rech, P.;Di Carlo, S.
2018
Abstract
This special session discusse different issues regarding the application of approximate computing to verification, test and reliability.
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