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This special session discusse different issues regarding the application of approximate computing to verification, test and reliability.

Special session: How approximate computing impacts verification, test and reliability / Sekanina, L., Vasicek, Z., Bosio, A., Traiola, M., Rech, P., Oliveria, D., Fernandes, F., Di Carlo, S.. - ELETTRONICO. - 2018:(2018), pp. 1-1. (36th IEEE VLSI Test Symposium, VTS 2018 San Francisco, USA 22-25 April, 2018) [10.1109/VTS.2018.8368628].

Special session: How approximate computing impacts verification, test and reliability

Rech, P.;Di Carlo, S.
2018

Abstract

This special session discusse different issues regarding the application of approximate computing to verification, test and reliability.
2018
9781538637746
4.1 Contributo in Atti di convegno
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