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EnglishThe cost of Burn-In is a major concern for the testing of Automotive Systems-on-Chip (SoC). This paper highlights problematic aspects of a Burn-In flow and describes a two-layered adaptive technique that permits to optimize the stress application and strongly reduce BI test time. At the SoC level, the described methodology adaptively copes with FLASH erase time uncertainties; at the Automatic Test Equipment (ATE) level, the strategy relies on power monitors and tester intelligence. The paper reports experimental results on a SoC manufactured by STMicroelectronics; figures show an optimized usage of stress resources and demonstrates a reduction of 25% of the BI test time when using the proposed adaptive techniques.
| Titolo: | Adaptive Management Techniques for Optimized Burn-In of Safety-Critical SoC |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2018 |
| Rivista: | |
| Digital Object Identifier (DOI): | http://dx.doi.org/10.1007/s10836-018-5705-1 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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| File | Descrizione | Tipologia | Licenza | |
|---|---|---|---|---|
| JETTA_FINAL.pdf | versione accettata | Documento in Pre-print | Non Pubblico - Accesso privato/ristretto | Administrator Richiedi una copia |
http://hdl.handle.net/11583/2698574
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