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EnglishNowadays, Self-Test strategies for testing embedded processors are increasingly diffused, especially for safety critical systems. Test programs can be effectively used for this purpose. This paper describes a set of systematic self-test techniques for in-order dual-issue embedded processors. The paper shows how to produce test programs suitable for the detection of faults in five classes of sub-modules: duplicated computational modules; multi-port register file; duplicated pipeline registers and feed-forward paths; pipeline interlocking logic; and pre-fetch buffer. While some techniques extend single-issue test programs, new techniques are also shown; results are illustrated for a couple of 32-bit in-order dual-issue processors included in automotive Systems-on-Chip manufactured by STMicroelectronics.
| Titolo: | Software-Based Self-Test Techniques for Dual-Issue Embedded Processors |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2017 |
| Rivista: | |
| Digital Object Identifier (DOI): | 10.1109/TETC.2017.2758641 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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| File | Descrizione | Tipologia | Licenza | |
|---|---|---|---|---|
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http://hdl.handle.net/11583/2685059
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