Improving the Functional Test Delay Fault Coverage: A Microprocessor Case Study / Touati, A.; Bosio, A.; Girard, P.; Virazel, A.; Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (2016), pp. 731-736. (Intervento presentato al convegno 2016 IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI)) [10.1109/ISVLSI.2016.42].
Improving the Functional Test Delay Fault Coverage: A Microprocessor Case Study
BERNARDI, PAOLO;SONZA REORDA, Matteo
2016
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https://hdl.handle.net/11583/2650515
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