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Citazione Data di pubblicazione Autori File
A family of Self-Repair SRAM cores / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; DI NATALE, G; LOBETTI BODONI, M; Prinetto, Paolo Ernesto. - (2000), pp. 214-218. (Intervento presentato al convegno IOLTW 2000: IEEE International On-Line Test Workshop nel July 2000). 1-gen-2000 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNAPRINETTO, Paolo Ernesto + -
A Fault Injection Environment for Microprocessor-based Board / Benso, Alfredo; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (1998), pp. 768-773. (Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Washington (DC), USA nel 18-23 Oct. 1998) [10.1109/TEST.1998.743259]. 1-gen-1998 BENSO, AlfredoPRINETTO, Paolo ErnestoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo 1998-ITC-FaultInjection-uP.pdf
A Fault Injection Methodology and Infrastructure for Fast Single Event Upsets Emulation on Xilinx SRAM-based FPGAs / DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Rolfo, D.; Trotta, P.. - ELETTRONICO. - (2014), pp. 159-164. (Intervento presentato al convegno 27th IEEE Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems Symposium (DFTS) tenutosi a Amsterdam, NL nel 1-3 Oct. 2014) [10.1109/DFT.2014.6962073]. 1-gen-2014 DI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo Ernesto + Faul_InjectionDFT_Postprint.pdf
A FPGA-based control-flow integrity solution for securing bare-metal embedded systems / Maunero, N.; Prinetto, P.; Roascio, G.; Varriale, A.. - ELETTRONICO. - (2020), pp. 1-10. (Intervento presentato al convegno 15th IEEE International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, DTIS 2020 tenutosi a Marrakech (MA) nel 2020) [10.1109/DTIS48698.2020.9081314]. 1-gen-2020 Maunero N.Prinetto P.Roascio G. + 09081314.pdf; A FPGA-based Control-Flow Integrity Solution for Securing Bare-Metal Embedded Systems.pdf
A FPGA-Based Reconfigurable Software Architecture for Highly Dependable Systems / DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Scionti, A.. - STAMPA. - (2009), pp. 125-130. (Intervento presentato al convegno IEEE Asian Test Symposium (ATS) tenutosi a Taichung, TW nel 23-26 Nov. 2009) [10.1109/ATS.2009.53]. 1-gen-2009 DI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo Ernesto + 2009-ATS-Fpga-AuthorVersion.pdf
A genetic algorithm for automatic generation of test logic for digital circuits / Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo;  ,. - STAMPA. - (1996), pp. 10-16. (Intervento presentato al convegno ICTAI 1996 : 8th IEEE International Conference on Tools with Artificial Intelligence, 1996 tenutosi a Toulouse (France) nel Nov 16-19, 1996) [10.1109/TAI.1996.560394]. 1-gen-1996 CORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoSONZA REORDA, Matteo + -
A genetic algorithm for the computation of initialization sequences for synchronous sequential circuits / Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - (2001), pp. 213-218. (Intervento presentato al convegno ATS '97 tenutosi a Akita (JPN) nel 19-21 Nov. 1997) [10.1109/ATS.2001.10066]. 1-gen-2001 CORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, MatteoSQUILLERO, Giovanni -
A genetic algorithm for the computation of initialization sequences for synchronous sequential circuits / Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - (1997), pp. 56-61. (Intervento presentato al convegno ATS '97, 6th Asian Test Symposium tenutosi a Akita (JPN) nel 17-19 Nov 1997) [10.1109/ATS.1997.643917]. 1-gen-1997 CORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, MatteoSQUILLERO, Giovanni -
A hierarchical integrated system for microcode development / Mezzalama, Marco; Prinetto, Paolo Ernesto; Visintin, I.. - STAMPA. - (1981), pp. 251-260. (Intervento presentato al convegno EUROMICRO `81: 7th Euromicro Symposium on Implementing Functions: Microprocessing and Firmware tenutosi a Paris (France) nel Sept 1981). 1-gen-1981 MEZZALAMA, MarcoPRINETTO, Paolo Ernesto + -
A Hybrid Fault Injection Methodology for Real Time Systems / Benso, Alfredo; Civera, Pierluigi; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Ferro, ANTONIO VITO; Macchiarulo, Luca; Violante, Massimo; Prinetto, Paolo Ernesto; R., Ubar; J., Raik. - STAMPA. - (1998), pp. 74-75. (Intervento presentato al convegno FTCS-28: 28th Annual International Symposium on Fault-Tolerant Computing tenutosi a Munich (Germany) nel Jun 23-25, 1998). 1-gen-1998 BENSO, AlfredoCIVERA, PIERLUIGIREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, MatteoFERRO, ANTONIO VITOMACCHIARULO, LucaVIOLANTE, MASSIMOPRINETTO, Paolo Ernesto + -
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 249
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 246
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 3
Autore
  • DI CARLO, STEFANO 83
  • SONZA REORDA, MATTEO 66
  • CORNO, Fulvio 53
  • BENSO, ALFREDO 45
  • REBAUDENGO, MAURIZIO 33
  • CAMURATI, Paolo Enrico 30
  • DI NATALE, GIORGIO 25
  • MEZZALAMA, MARCO 24
  • CHIUSANO, SILVIA ANNA 23
  • INDACO, MARCO 18
Data di pubblicazione
  • In corso di stampa 2
  • 2020 - 2023 14
  • 2010 - 2019 63
  • 2000 - 2009 66
  • 1990 - 1999 75
  • 1980 - 1989 25
  • 1978 - 1979 4
Editore
  • IEEE Computer Society 84
  • IEEE 44
  • Institute of Electrical and Elect... 11
  • Springer 8
  • CEUR Workshop Proceedings 4
  • IEEE Computer Society Press 4
  • IEEE / Institute of Electrical an... 3
  • North-Holland Publishing Co. 3
  • SPD FL Stepanov V.V.Ukraine, 6116... 3
  • Acta Press 2
Rivista
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 8
  • 2016 IEEE 34th VLSI Test Symposiu... 1
Serie
  • CEUR WORKSHOP PROCEEDINGS 4
Keyword
  • DIGITAL SYSTEM DESIGN TEST AND VE... 90
  • Automatic testing 16
  • System testing 16
  • Random access memory 12
  • Circuit faults 11
  • Reliability 9
  • Application software 8
  • Digital systems 8
  • Fault detection 8
  • Hardware 8
Lingua
  • eng 206
  • ger 2
Accesso al fulltext
  • no fulltext 143
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