On the Modeling of Gate Delay Faults by Means of Transition Delay Faults / Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo; Bosio, A.; Girard, P.; Pravossoudovitch, S.. - (2011), pp. 226-232. (Intervento presentato al convegno Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2011 IEEE International Symposium on) [10.1109/DFT.2011.53].

On the Modeling of Gate Delay Faults by Means of Transition Delay Faults

BERNARDI, PAOLO;SONZA REORDA, Matteo;
2011

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2479981
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